公开(公告)号：US06907379B1

公开(公告)日：2005-06-14

申请号：US10305224

申请日：2002-11-25

申请人： Franklyn Shihyu Wu ,  Shivananda S. Shetty

发明人： Franklyn Shihyu Wu ,  Shivananda S. Shetty

IPC分类号： G01R31/00 ,  G01R31/30 ,  G01R31/319

CPC分类号： G01R31/31919 ,  G01R31/3004

摘要： A system and method are provided for processing tester information including means of determining axis information and means of determining break information for the tester information. The axis information and the break information are applied to the tester information to provide disjointed tester information. The disjointed tester information is then plotted on a disjointed axis graph.

摘要翻译： 提供了一种用于处理测试器信息的系统和方法，包括确定轴信息的装置和确定测试仪信息的断裂信息的装置。 轴信息和断点信息应用于测试仪信息，以提供不相交的测试仪信息。 然后将不相交的测试器信息绘制在不相交的轴图上。

公开(公告)号：US06875560B1

公开(公告)日：2005-04-05

申请号：US10632471

申请日：2003-08-01

申请人： Paul J. Steffan ,  Jeffrey P. Erhardt ,  Shivananda S. Shetty

发明人： Paul J. Steffan ,  Jeffrey P. Erhardt ,  Shivananda S. Shetty

IPC分类号： G01R31/28 ,  G03C5/00 ,  H01L23/544

CPC分类号： G01R31/2884 ,  G01R31/2831 ,  H01L22/34

摘要： A method of testing an integrated circuit is provided, which includes providing a semiconductor substrate having a semiconductor device provided thereon. A first dielectric layer is formed over the semiconductor substrate and a first channel is formed in the first dielectric layer in contact with the semiconductor device. A first contact pad mask layer is formed and a first contact pad in the first contact pad mask layer is formed in contact with the first channel. The first contact pad is used to test the first channel and the semiconductor device and the first contact pad mask layer and the first contact pad are removed.

摘要翻译： 提供一种测试集成电路的方法，其包括提供其上设置有半导体器件的半导体衬底。 在半导体衬底上形成第一电介质层，并且在与半导体器件接触的第一电介质层中形成第一沟道。 形成第一接触焊盘掩模层，并且第一接触焊盘掩模层中的第一接触焊盘形成为与第一通道接触。 第一接触焊盘用于测试第一通道，半导体器件和第一接触焊盘掩模层和第一接触焊盘被去除。