公开(公告)号：US06880118B2

公开(公告)日：2005-04-12

申请号：US09999877

申请日：2001-10-25

申请人： Cecilia T. Chen ,  Jyh-Ming Jong ,  Wai Fong ,  Leo Yuan ,  Brian L. Smith

发明人： Cecilia T. Chen ,  Jyh-Ming Jong ,  Wai Fong ,  Leo Yuan ,  Brian L. Smith

IPC分类号： G01R31/3185 ,  G01R31/28

CPC分类号： G01R31/31858 ,  G01R31/318544

摘要： A source synchronous test methodology and apparatus. In one embodiment, an integrated circuit (IC) configured for source synchronous I/O transactions may be a device under test (DUT) and may be mounted to a load board for testing. The load board may be electrically coupled to a test system. The test system may shift first test data into a first IC on the load board. The first chip may then transmit the first test data through a source synchronous line, or a source synchronous link having a plurality of lines, to a second IC. Second test data produced responsive to the source synchronous transmission is then shifted from the second IC to the tester. The second test data is then analyzed. The analysis may comprise comparing the second data to expected data, and/or may also comprise analyzing the second data with respect to an eye window.

摘要翻译： 源同步测试方法和设备。 在一个实施例中，配置用于源同步I / O事务的集成电路（IC）可以是被测设备（DUT），并且可以被安装到负载板以进行测试。 负载板可以电耦合到测试系统。 测试系统可以将第一测试数据转移到负载板上的第一个IC中。 然后，第一芯片可以通过源同步线或具有多条线的源同步链路将第一测试数据发送到第二IC。 然后响应于源同步传输产生的第二测试数据从第二IC转移到测试器。 然后分析第二个测试数据。 分析可以包括将第二数据与预期数据进行比较，和/或还可以包括分析关于眼睛窗口的第二数据。