公开(公告)号：US07113882B2

公开(公告)日：2006-09-26

申请号：US10753435

申请日：2004-01-09

申请人： Ken-Ho Liu ,  Li-Ping Wang ,  Chang-Gen Mao ,  Hua-Liang Zhang

发明人： Ken-Ho Liu ,  Li-Ping Wang ,  Chang-Gen Mao ,  Hua-Liang Zhang

IPC分类号： G06F19/00

CPC分类号： G01R31/40 ,  G01R31/025

摘要： An automatic testing system. A sampling and converting device obtains a plurality of electronic parameters from a tested device and transforms them into a plurality of digital signals. A microprocessor receives the digital signals and performs various short-circuit tests, over-current tests and over-voltage tests in a specific sequence.

摘要翻译： 自动测试系统 采样和转换装置从测试装置获得多个电子参数，并将其转换成多个数字信号。 微处理器接收数字信号，并以特定顺序执行各种短路测试，过流测试和过压测试。