公开(公告)号：US08797028B2

公开(公告)日：2014-08-05

申请号：US12738317

申请日：2008-10-21

申请人： Coen Adrianus Johannes Verschuren ,  Josephus Arnoldus Henricus Maria Kahlman ,  Albert Hendrik Jan Immink ,  Mischa Megens ,  Jeroen Veen ,  Bart Michiel De Boer ,  Theodorus Petrus Henricus Gerardus Jansen

发明人： Coen Adrianus Johannes Verschuren ,  Josephus Arnoldus Henricus Maria Kahlman ,  Albert Hendrik Jan Immink ,  Mischa Megens ,  Jeroen Veen ,  Bart Michiel De Boer ,  Theodorus Petrus Henricus Gerardus Jansen

IPC分类号： G01R33/02 ,  G01N33/00 ,  G01N21/55

CPC分类号： G01N15/06 ,  G01N15/0656 ,  G01N2015/0693 ,  G01R33/1269

摘要： A sensor device and a method for the determination of the amount of target particles at a contact surface adjacent to a sample chamber include detecting, by a detector, the target particles in the sample chamber by a sensor element, and providing at least one corresponding sensor signal. An evaluation unit determines the amount of target particles in a first zone at the contracts surface and in a second zone a distance away from the contact surface based on this sensor signal. In an optical measurement approach, frustrated total internal reflection taking place under different operating conditions, such as wavelength and/or angle of incidence, may be used to extract information about the first and second zones. In a magnetic measurement approach, different magnetic excitation fields may be used to excite magnetic target particles differently in the first and second zone.

摘要翻译： 用于确定与样品室相邻的接触表面处的目标颗粒的量的传感器装置和方法包括通过检测器通过传感器元件检测样品室中的目标颗粒，并且提供至少一个相应的传感器 信号。 评估单元基于该传感器信号确定在合同表面处的第一区域中的目标颗粒的量和距接触表面一定距离的第二区域中的目标颗粒的量。 在光学测量方法中，可以使用在诸如波长和/或入射角的不同操作条件下发生的沮丧的全内反射来提取关于第一和第二区域的信息。 在磁测量方法中，可以使用不同的磁激励场来在第一和第二区域中不同地激励磁性目标颗粒。

公开(公告)号：US20100259254A1

公开(公告)日：2010-10-14

申请号：US12738317

申请日：2008-10-21

申请人： Coen Adrianus Johannes Verschuren ,  Josephus Arnoldus Henricus Maria Kahlman ,  Albert Hendrik Jan Immink ,  Mischa Megens ,  Jeroen Veen ,  Bart Michiel De Boer ,  Theodorus Petrus Henricus Gerardus Jansen

发明人： Coen Adrianus Johannes Verschuren ,  Josephus Arnoldus Henricus Maria Kahlman ,  Albert Hendrik Jan Immink ,  Mischa Megens ,  Jeroen Veen ,  Bart Michiel De Boer ,  Theodorus Petrus Henricus Gerardus Jansen

IPC分类号： G01R33/02 ,  G01N33/00 ,  G01N21/55

CPC分类号： G01N15/06 ,  G01N15/0656 ,  G01N2015/0693 ,  G01R33/1269

摘要： The invention relates to a sensor device (100) and a method for the determination of the amount of target particles (1) at a contact surface (112) adjacent to a sample chamber (2). Target particles (1) in the sample chamber are detected by a sensor element (SE) and at least one corresponding sensor-signal (s, s′) is provided. An evaluation unit (EU) then determines the amount of target particles (1) in a first zone (Z1) immediately at the contracts surface (112) and a second zone (Z2) a distance (z) away from the contact surface based on this sensor-signal. In an optical measurement approach, frustrated total internal reflection taking place under different operating conditions (e.g. wavelength, angle of incidence) may be used to extract information about the first and second zones (Z1, Z2). In a magnetic measurement approach, different magnetic excitation fields may be used to excite magnetic target particles differently in the first and second zone (Z2). Moreover, the temporal course of a sensor-signal (s, s′) can be evaluated, particularly with respect to stochastic movements of the target particles (1).

摘要翻译： 本发明涉及一种传感器装置（100）和用于确定在与样品室（2）相邻的接触表面（112）处的目标颗粒（1）的量的方法。 通过传感器元件（SE）检测样品室中的目标颗粒（1），并提供至少一个对应的传感器信号（s，s'）。 然后，评估单元（EU）基于紧接表面（112）立即确定第一区域（Z1）中的目标颗粒（1）的数量和远离接触表面的距离（z）的第二区域（Z2），基于 这个传感器信号。 在光学测量方法中，可以使用在不同操作条件（例如波长，入射角）下发生的沮丧的全内反射来提取关于第一和第二区（Z1，Z2）的信息。 在磁测量方法中，可以使用不同的磁激励场来在第一和第二区（Z2）中不同地激励磁目标颗粒。 此外，可以评估传感器信号（s，s'）的时间过程，特别是关于目标颗粒（1）的随机运动。