公开(公告)号：US08522091B1

公开(公告)日：2013-08-27

申请号：US13300507

申请日：2011-11-18

申请人： Dagan M. White ,  John D. Corbett

发明人： Dagan M. White ,  John D. Corbett

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G06F11/073 ,  G06F11/008 ,  G06F11/0763 ,  G06F11/27

摘要： In one embodiment, a method of detecting corruption of configuration memory is provided. A bitstream of a circuit design that includes at least a first module and a second module is generated. Configuration memory cells used to implement each of the first and second modules are determined. The configuration memory cells are programmed with the bitstream. After programming, configuration memory cells used to implement the first module are checked for corruption at a first frequency, and configuration memory cells used to implement the second module are checked for corruption at a second frequency, with the first frequency being different from the second frequency.

摘要翻译： 在一个实施例中，提供了一种检测配置存储器的损坏的方法。 生成包括至少第一模块和第二模块的电路设计的比特流。 确定用于实现第一和第二模块中的每一个的配置存储单元。 配置存储器单元用比特流编程。 在编程之后，检查用于实现第一模块的配置存储单元在第一频率处的损坏，并且检查用于实现第二模块的配置存储单元在第二频率处的损坏，其中第一频率不同于第二频率 。