公开(公告)号：US06966019B2

公开(公告)日：2005-11-15

申请号：US10186195

申请日：2002-06-28

申请人： Dominic Viens ,  Gregory P. Brown ,  Larry Klein ,  Francois Labonte

发明人： Dominic Viens ,  Gregory P. Brown ,  Larry Klein ,  Francois Labonte

IPC分类号： G01R31/319 ,  G01R31/317

CPC分类号： G01R31/31907

摘要： An automatic test system transfers measure data from one or more test instruments to a processor and processes the measure data, the packaging, transfer, and the processing of the measure data initiated by the one or more test instruments. A method for testing a device under test includes capturing measure data with a test instrument, and initiating, with the test instrument, operation upon the measure data. The operations include packaging the measure data to provide packaged data, and transferring the packaged data to a switching/processing circuit for processing. A method of manufacturing an electronic circuit includes fabricating the electronic circuit and testing the electronic circuit with the aforementioned method.

摘要翻译： 自动测试系统将测量数据从一个或多个测试仪器传输到处理器，并处理由一个或多个测试仪器启动的测量数据的测量数据，包装，传输和处理。 用于测试被测设备的方法包括用测试仪器捕获测量数据，并且使用测试仪器启动对测量数据的操作。 这些操作包括打包测量数据以提供打包数据，并将打包数据传送到切换/处理电路进行处理。 一种制造电子电路的方法包括利用上述方法制造电子电路和测试电子电路。