公开(公告)号：US06836866B2

公开(公告)日：2004-12-28

申请号：US10007391

申请日：2001-10-22

申请人： Jürgen Nolles ,  Gerd Dirscherl ,  Wolfgang Gärtner

发明人： Jürgen Nolles ,  Gerd Dirscherl ,  Wolfgang Gärtner

IPC分类号： G01R3128

CPC分类号： G01R31/3187 ,  G01R31/3025 ,  G01R31/31719 ,  G01R31/318555

摘要： A circuit includes a built-in self-test, wherein the test coverage of a tested logic circuit is improved given the utilization of a fixed standard interface. Besides a direct interface, the complex circuit has an additional indirect interface, which connects a structural test device to a functional circuit.

摘要翻译： 电路包括内置自检，其中考虑到固定标准接口的使用，测试的逻辑电路的测试覆盖得到改善。 除了直接接口，复合电路还有一个附加的间接接口，将结构测试设备连接到功能电路。