公开(公告)号：US07333906B2

公开(公告)日：2008-02-19

申请号：US11200405

申请日：2005-08-09

申请人： Michael Reeve ,  Jean-Paule Mongeau Grice

发明人： Michael Reeve ,  Jean-Paule Mongeau Grice

IPC分类号： G01N37/00

CPC分类号： G05B23/0229 ,  G05B23/0232

摘要： A device and technique for monitoring the quality of a manufacturing process, a resulting part or both includes determining a cumulative deviation of an actual process signature from an expected signature. A disclosed example includes determining a quantitative value of a difference between the signatures at each of a plurality of corresponding segments of the signatures. A cumulative deviation based upon deviations of the corresponding segments provides an indication of quality. A disclosed example includes determining a negative cumulative deviation, a positive cumulative deviation and a total cumulative deviation, each of which may be used independently for analysis purposes.

摘要翻译： 用于监测制造过程的质量，所得到的部分或两者的装置和技术包括确定实际过程签名与预期签名的累积偏差。 公开的示例包括确定签名的多个对应段中的每一个处的签名之间的差异的定量值。 基于相应段的偏差的累积偏差提供质量指示。 公开的示例包括确定负累积偏差，正累积偏差和总累积偏差，其中每一个可以独立地用于分析目的。