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    Method and system for determining an optimized artificial impedance surface
    1.
    发明授权
    Method and system for determining an optimized artificial impedance surface 有权
    用于确定优化的人造阻抗表面的方法和系统

    公开(公告)号：US07929147B1

    公开(公告)日：2011-04-19

    申请号：US12156445

    申请日：2008-05-31

    申请人： Bryan H. Fong ,  Joseph S. Colburn ,  John Ottusch ,  Daniel F. Sievenpiper ,  John L. Visher

    发明人： Bryan H. Fong ,  Joseph S. Colburn ,  John Ottusch ,  Daniel F. Sievenpiper ,  John L. Visher

    IPC分类号： G01B11/02 ,  H01Q15/02 ,  H01Q15/24

    CPC分类号： H01Q15/0046

    摘要： A method and system for determining an optimized artificial impedance surface is disclosed. An artificial impedance pattern is calculated on an impedance surface using an optical holographic technique given an assumed surface wave profile and a desired far field radiation pattern. Then, an actual surface wave profile produced on the impedance surface from the artificial impedance pattern, and an actual far field radiation pattern produced by the actual surface wave profile are calculated. An optimized artificial impedance pattern is then calculated by iteratively re-calculating the artificial impedance pattern from the actual surface wave profile and the desired far field radiation pattern. An artificial impedance surface is determined by mapping the optimized artificial impedance pattern onto a representation of a physical surface.

    摘要翻译： 公开了一种用于确定优化的人造阻抗表面的方法和系统。 使用给定假定的表面波轮廓和期望的远场辐射图案的光学全息技术在阻抗表面上计算人造阻抗图案。 然后，计算由人造阻抗图形在阻抗表面上产生的实际表面波形，以及由实际表面波形产生的实际远场辐射图。 然后通过从实际表面波轮廓和期望的远场辐射图反复重新计算人造阻抗图案来计算优化的人造阻抗图案。 通过将优化的人造阻抗图案映射到物理表面的表示上来确定人造阻抗表面。

    Method for designing artificial surface impedance structures characterized by an impedance tensor with complex components
    2.
    发明授权
    Method for designing artificial surface impedance structures characterized by an impedance tensor with complex components 有权
    设计人造表面阻抗结构的方法，其特征在于具有复杂分量的阻抗张量

    公开(公告)号：US07911407B1

    公开(公告)日：2011-03-22

    申请号：US12138083

    申请日：2008-06-12

    申请人： Bryan Ho Lim Fong ,  Joseph S. Colburn ,  Paul R. Herz ,  John J. Ottusch ,  Daniel F. Sievenpiper ,  John L. Visher

    发明人： Bryan Ho Lim Fong ,  Joseph S. Colburn ,  Paul R. Herz ,  John J. Ottusch ,  Daniel F. Sievenpiper ,  John L. Visher

    IPC分类号： H01Q15/02 ,  H01Q1/38

    CPC分类号： H01Q15/148 ,  H01Q15/0046

    摘要： A method for designing artificial impedance surfaces is disclosed. The method involves matching impedance component values required for a given far-field radiation pattern (determined, for example, by holographic means) with measured or simulated impedance component values for the units of a lattice of conductive structures used to create an artificial impedance surface, where the units of the lattice have varied geometry. For example, a unit could be a square conductive structure with a slice (removed or missing material) through it. The measured or simulated impedance components are determined by measuring wavevector values for test surfaces in three or more directions over any number of test surfaces, where each unit of a given test surface has the same geometric shape and proportions as all of the other units of that test surface, but each test surface has some form of variation in the unit geometry from the other test surfaces. These test measurements create a table of geometry vs. impedance components that are used to design the artificial impedance structure. Since polarization can be controlled, the structure can be an artificial impedance surface characterized by a tensor impedance having complex components.

    摘要翻译： 公开了一种用于设计人造阻抗表面的方法。 该方法包括将给定远场辐射图（例如通过全息装置确定）所需的阻抗分量值与用于产生人造阻抗表面的导电结构的晶格单元的测量或模拟阻抗分量值进行匹配， 其中格子的单位具有不同的几何形状。 例如，单元可以是具有切片（去除或缺失材料）的正方形导电结构。 测量或模拟的阻抗分量通过在任意数量的测试表面上测量三个或更多个方向上的测试表面的波矢值来确定，其中给定测试表面的每个单元具有与该测试表面的所有其它单元相同的几何形状和比例 测试表面，但每个测试表面在其他测试表面的单位几何形状中具有某种形式的变化。 这些测试测量创建了用于设计人造阻抗结构的几何对抗阻抗元件表。 由于可以控制极化，所以该结构可以是以具有复杂分量的张量阻抗为特征的人造阻抗表面。