公开(公告)号：US6144595A

公开(公告)日：2000-11-07

申请号：US131880

申请日：1998-08-10

申请人： Osamu Hirooka ,  Hiroyoshi Tomita ,  Tatsuya Kanda

发明人： Osamu Hirooka ,  Hiroyoshi Tomita ,  Tatsuya Kanda

IPC分类号： G01R31/28 ,  G11C11/401 ,  G11C11/407 ,  G11C29/02 ,  G11C29/12 ,  G11C29/34 ,  G11C7/00

CPC分类号： G11C29/12 ,  G11C29/02

摘要： A semiconductor device outputs data from a plurality of data nodes during a normal-operation mode, and outputs a test result from at least one of the data nodes during a test-operation mode. The semiconductor device includes a plurality of data-bus lines which convey the data with respect to the data nodes, and a data-bus switch which allows only the data-bus lines corresponding to the at least one of the data nodes to be driven in a first condition of the test-operation mode, and which allows all of the data-bus lines corresponding to the data nodes to be driven in a second condition of the test-operation mode.

摘要翻译： 半导体器件在正常操作模式期间从多个数据节点输出数据，并且在测试操作模式期间从至少一个数据节点输出测试结果。 半导体器件包括相对于数据节点传送数据的多条数据总线，以及数据总线开关，该数据总线开关只允许与至少一个数据节点相对应的数据总线线驱动 测试操作模式的第一条件，并且允许在测试操作模式的第二条件下驱动对应于数据节点的所有数据总线。