公开(公告)号：US20120169362A1

公开(公告)日：2012-07-05

申请号：US13418958

申请日：2012-03-13

申请人： Keong Hong Oh ,  Yee Liang Tan ,  Siang Poh Lob ,  Chooi Pei Lim

发明人： Keong Hong Oh ,  Yee Liang Tan ,  Siang Poh Lob ,  Chooi Pei Lim

IPC分类号： G01R31/3187

CPC分类号： G06F13/40 ,  G06F17/505 ,  G06F17/5054 ,  G06F2217/14 ,  G06F2217/62 ,  G06F2217/84

摘要： Apparatuses and processes for distributing signals in an integrated circuit are disclosed. An embodiment to use a custom layer together with a base layer on an integrated circuit for testing the integrated circuit includes having a structured network on the base layer. The custom layer connects the network to logic elements on the integrated circuit. The network may be evenly distributed across the base layer of the integrated circuit. Even distribution of the network may reduce skew of the test signals. Buffers are also placed along the structured network. The buffers may be placed to ensure a deterministic test signals distribution. Unused buffers in the base layer may be tied off to reduce current leakage.

摘要翻译： 公开了用于在集成电路中分配信号的装置和过程。 在集成电路上用于测试集成电路的基层与定制层一起使用的实施例包括在基础层上具有结构化网络。 定制层将网络连接到集成电路上的逻辑元件。 网络可以均匀分布在集成电路的基础层上。 网络的均匀分布可能减少测试信号的偏差。 缓冲区也沿着结构化网络放置。 可以放置缓冲器以确保确定性的测试信号分布。 基层中的未使用的缓冲区可能被关闭以​​减少电流泄漏。

公开(公告)号：US08683405B2

公开(公告)日：2014-03-25

申请号：US13418958

申请日：2012-03-13

申请人： Keong Hong Oh ,  Yee Liang Tan ,  Siang Poh Lob ,  Chooi Pei Lim

发明人： Keong Hong Oh ,  Yee Liang Tan ,  Siang Poh Lob ,  Chooi Pei Lim

IPC分类号： G06F17/50

CPC分类号： G06F13/40 ,  G06F17/505 ,  G06F17/5054 ,  G06F2217/14 ,  G06F2217/62 ,  G06F2217/84

摘要： Apparatuses and processes for distributing signals in an integrated circuit are disclosed. An embodiment to use a custom layer together with a base layer on an integrated circuit for testing the integrated circuit includes having a structured network on the base layer. The custom layer connects the network to logic elements on the integrated circuit. The network may be evenly distributed across the base layer of the integrated circuit. Even distribution of the network may reduce skew of the test signals. Buffers are also placed along the structured network. The buffers may be placed to ensure a deterministic test signals distribution. Unused buffers in the base layer may be tied off to reduce current leakage.

摘要翻译： 公开了用于在集成电路中分配信号的装置和过程。 在集成电路上用于测试集成电路的基层与定制层一起使用的实施例包括在基础层上具有结构化网络。 定制层将网络连接到集成电路上的逻辑元件。 网络可以均匀分布在集成电路的基础层上。 网络的均匀分布可能减少测试信号的偏差。 缓冲区也沿着结构化网络放置。 可以放置缓冲器以确保确定性的测试信号分布。 基层中的未使用的缓冲区可能被关闭以​​减少电流泄漏。