公开(公告)号：US06967496B2

公开(公告)日：2005-11-22

申请号：US10889417

申请日：2004-07-12

申请人： Tawfik R. Arabi ,  Gregory F. Taylor ,  Srirama Pedaria ,  Patrick Elwer ,  Dan Murray

发明人： Tawfik R. Arabi ,  Gregory F. Taylor ,  Srirama Pedaria ,  Patrick Elwer ,  Dan Murray

IPC分类号： G01R31/30 ,  G01R31/3185 ,  G01R31/02

CPC分类号： G01R31/3008 ,  G01R31/3004 ,  G01R31/3012 ,  G01R31/318577

摘要： A method of testing an integrated circuit includes applying a voltage to one of the pins of the integrated circuit. The pin is floated for a predetermined time. A measurement is performed after the predetermined time. The measurement involves sampling the RC time constant of leakage current of the pins.

摘要翻译： 一种测试集成电路的方法包括向集成电路的一个引脚施加电压。 引脚浮起一段预定时间。 在预定时间之后进行测量。 测量包括对引脚漏电流的RC时间常数进行采样。