公开(公告)号：US07554678B2

公开(公告)日：2009-06-30

申请号：US10587762

申请日：2004-12-22

申请人： Ulrich Pingel ,  Stefan Leute ,  Paul Weigt

发明人： Ulrich Pingel ,  Stefan Leute ,  Paul Weigt

IPC分类号： G01B11/06

CPC分类号： G01B11/06

摘要： The invention relates to device for measuring the thickness of a transparent sample (2), particularly a glass strip or a glass pane, involving the use of: a first light beam (L1), particularly a first laser beam, which strikes upon the front surface (8) of the sample (2) at a first angle of incidence (α1); a second light beam (L2), particularly a second laser beam, which strikes upon the front surface (8) of the sample (2) at a second angle of incidence (α2), the first angle of incidence (α1) and the second angle of incidence (α2) being different, and; at least one detector (11, 12) for detecting the light beams (L1′, L1″, L2′, L2″) of the first and second incident light beams (L1, L2) reflected by the sample, and for determining the position thereof. In order to also be able to carry out a correction for curvature, at least one incident light beam (L3), which is essentially parallel to the first or second light beam (L1, L2), is oriented toward the front surface (8) of the sample (2), and at least one detector (11) is provided for detecting a light beam (L3′) of the parallel light beam (L3) reflected by the sample (2) and for determining the position thereof. The invention also relates to a corresponding method.

摘要翻译： 本发明涉及用于测量透明样品（2）的厚度的装置，特别是玻璃条或玻璃板，其包括使用：第一光束（L1），特别是第一激光束，其撞击在前面 样品（2）的表面（8）以第一入射角（α1）; 以第二入射角（α2）撞击样品（2）的前表面（8）的第二光束（L2），特别是第二激光束，第一入射角（α1）和第二入射角 入射角（α2）不同， 至少一个检测器（11,12），用于检测被样品反射的第一和第二入射光束（L1，L2）的光束（L1'，L1“，L2'，L2”），并用于确定 的位置。 为了也能够进行曲率校正，基本上平行于第一或第二光束（L1，L2）的至少一个入射光束（L3）朝向前表面（8）定向， ，并且提供至少一个检测器（11），用于检测由样品（2）反射的平行光束（L3）的光束（L3'）并用于确定其位置。 本发明还涉及相应的方法。

公开(公告)号：US20070052978A1

公开(公告)日：2007-03-08

申请号：US10587762

申请日：2004-12-22

申请人： Ulrich Pingel ,  Stefan Leute ,  Paul Weigt

发明人： Ulrich Pingel ,  Stefan Leute ,  Paul Weigt

IPC分类号： G01B11/06

CPC分类号： G01B11/06

摘要： The invention relates to device for measuring the thickness of a transparent sample (2), particularly a glass strip or a glass pane, involving the use of: a first light beam (L1), particularly a first laser beam, which strikes upon the front surface (8) of the sample (2) at a first angle of incidence (α1); a second light beam (L2), particularly a second laser beam, which strikes upon the front surface (8) of the sample (2) at a second angle of incidence (α2), the first angle of incidence (α1) and the second angle of incidence (α2) being different, and; at least one detector (11, 12) for detecting the light beams (L1′, L1″, L2′, L2″) of the first and second incident light beams (L1, L2) reflected by the sample, and for determining the position thereof. In order to also be able to carry out a correction for curvature, at least one incident light beam (L3), which is essentially parallel to the first or second light beam (L1, L2), is oriented toward the front surface (8) of the sample (2), and at least one detector (11) is provided for detecting a light beam (L3′) of the parallel light beam (L3) reflected by the sample (2) and for determining the position thereof. The invention also relates to a corresponding method.

摘要翻译： 本发明涉及用于测量透明样品（2），特别是玻璃条或玻璃板的厚度的装置，其涉及使用：第一光束（L 1），特别是第一激光束 第一入射角（α1）的样品（2）的前表面（8）; 以第二入射角（α2）撞击样品（2）的前表面（8）的第二光束（L 2），特别是第二激光束，第一入射角（α1） 并且第二入射角（α2）不同， 用于检测第一和第二入射光束（L 1，L 2）的光束（L 1'，L 1“，L 2'，L 2”）的至少一个检测器（11,12），其被第 样品和用于确定其位置。 为了也能够进行曲率校正，基本上平行于第一或第二光束（L 1，L 2）的至少一个入射光束（L 3）朝向前表面 （2）的反射光束（8），并且提供至少一个检测器（11），用于检测由样品（2）反射的平行光束（L 3）的光束（L 3'），并且用于确定 的位置。 本发明还涉及相应的方法。