公开(公告)号：US07034288B2

公开(公告)日：2006-04-25

申请号：US10877497

申请日：2004-06-25

申请人： Takaya Satoh ,  Yoshihiro Kammei ,  Tatsuji Kobayashi ,  Mitsuyasu Iwanaga

发明人： Takaya Satoh ,  Yoshihiro Kammei ,  Tatsuji Kobayashi ,  Mitsuyasu Iwanaga

IPC分类号： B01D59/44 ,  H01J49/00

CPC分类号： H01J49/40 ,  G01N30/7206

摘要： A time-of-flight mass spectrometer capable of cutting out a major portion of carrier gas-derived ions ahead of the ion reservoir. The ion source is of the electron impact type and has source magnets for deflecting some of the produced ions away from the center axis of the ion reservoir. Electrostatic lenses for promoting the deflection of the ions caused by the source magnets and a differentially pumped slit for cutting off the deflected ions are mounted downstream of the ion source.

摘要翻译： 飞行时间质谱仪能够在离子储存器之前切除大部分载气衍生的离子。 离子源具有电子冲击型，并且具有用于将一些产生的离子偏离离子储存器的中心轴线的源极。 用于促进由源极磁体引起的离子偏转的静电透镜和用于切断偏转离子的差分泵浦狭缝安装在离子源的下游。

公开(公告)号：US20050023458A1

公开(公告)日：2005-02-03

申请号：US10877497

申请日：2004-06-25

申请人： Takaya Satoh ,  Yoshihiro Kammei ,  Tatsuji Kobayashi ,  Mitsuyasu Iwanaga

发明人： Takaya Satoh ,  Yoshihiro Kammei ,  Tatsuji Kobayashi ,  Mitsuyasu Iwanaga

IPC分类号： G01N27/62 ,  G01N27/64 ,  G01N30/72 ,  H01J49/06 ,  H01J49/40 ,  H01J49/00

CPC分类号： H01J49/40 ,  G01N30/7206

摘要： A time-of-flight mass spectrometer capable of cutting out a major portion of carrier gas-derived ions ahead of the ion reservoir. The ion source is of the electron impact type and has source magnets for deflecting some of the produced ions away from the center axis of the ion reservoir. Electrostatic lenses for promoting the deflection of the ions caused by the source magnets and a differentially pumped slit for cutting off the deflected ions are mounted downstream of the ion source.

摘要翻译： 飞行时间质谱仪能够在离子储存器之前切除大部分载气衍生的离子。 离子源具有电子冲击型，并且具有用于将一些产生的离子偏离离子储存器的中心轴线的源极。 用于促进由源极磁体引起的离子偏转的静电透镜和用于切断偏转离子的差分泵浦狭缝安装在离子源的下游。

公开(公告)号：US06674068B1

公开(公告)日：2004-01-06

申请号：US09561193

申请日：2000-04-27

申请人： Yoshihiro Kammei

发明人： Yoshihiro Kammei

IPC分类号： H01J4940

CPC分类号： H01J49/025 ,  H01J49/40

摘要： There is disclosed a time-of-flight (TOF) mass spectrometer using microchannel plates (MCPs), that are prevented from saturating even if strong ion pulses hit the microchannel plates. Usually, the saturation would result in a dead time, removing parts of the produced mass spectrum and shortening the lifetimes of the microchannel plates. An intermediate ion detector is mounted at the spatial focusing point of a reflectron TOF-MS spectrometer portion to measure the current values of ion pulses arriving from an external ion source, as well as the elapsed times since start of travel of the ion pulses. Information obtained by the measurement is fed back to the final ion detector. Thus, the gain of the final ion detector is controlled before the ion pulses reach the final ion detector. This prevents saturation of the final ion detector. The invention can also be applied to a TOF mass spectrometer using pulsed ionization and to an electrostatic sector field TOF mass spectrometer.

摘要翻译： 公开了使用微通道板（MCP）的飞行时间（TOF）质谱仪，即使强离子脉冲撞击微通道板，也能防止饱和。 通常，饱和度将导致死区时间，去除产生的质谱的部分并缩短微通道板的寿命。 中间离子检测器安装在反射器TOF-MS光谱仪部分的空间聚焦点处，以测量从外部离子源到达的离子脉冲的电流值以及从离子脉冲开始行驶起经过的时间。 通过测量得到的信息反馈给最终的离子检测器。 因此，在离子脉冲到达最终离子检测器之前控制最终离子检测器的增益。 这可以防止最终离子检测器的饱和。 本发明也可应用于使用脉冲电离的TOF质谱仪和静电扇区场TOF质谱仪。