公开(公告)号：US07263676B2

公开(公告)日：2007-08-28

申请号：US10410919

申请日：2003-04-09

申请人： Alexander Gyure ,  Jindrich Zejda ,  Peivand Fallah-Tehrani ,  Wenyuan Wang ,  Chi-Chong Lo ,  Seyed Alireza Kasnavi ,  Mahmoud Shahram ,  Yansheng Luo ,  William Chiu-Ting Shu

发明人： Alexander Gyure ,  Jindrich Zejda ,  Peivand Fallah-Tehrani ,  Wenyuan Wang ,  Chi-Chong Lo ,  Seyed Alireza Kasnavi ,  Mahmoud Shahram ,  Yansheng Luo ,  William Chiu-Ting Shu

IPC分类号： G06F17/50 ,  G06F9/45

CPC分类号： G06F17/5036

摘要： One embodiment of the invention provides a system that analyzes the propagation of noise through an integrated circuit. During operation, the system obtains an input noise signal to be applied to a cell within the integrated circuit. The system then looks up parameters specifying how noise affects the cell, and then uses the parameters to determine how the input noise signal affects the cell. This can involve determining if the input noise signal will cause the cell to fail and/or determining a propagated noise signal that emanates from the cell.

摘要翻译： 本发明的一个实施例提供了一种通过集成电路分析噪声传播的系统。 在操作期间，系统获得要施加到集成电路内的单元的输入噪声信号。 然后，系统查找指定噪声如何影响单元格的参数，然后使用参数来确定输入噪声信号如何影响单元。 这可以涉及确定输入噪声信号是否会导致小区故障和/或确定从小区发出的传播噪声信号。

公开(公告)号：US07007252B2

公开(公告)日：2006-02-28

申请号：US10410903

申请日：2003-04-09

申请人： Alexander Gyure ,  Jindrich Zejda ,  Peivand Fallah-Tehrani ,  Wenyuan Wang ,  Chi-Chong Lo ,  Mahmoud Shahram ,  Yansheng Luo ,  William Chiu-Ting Shu ,  Seyed Alireza Kasnavi

发明人： Alexander Gyure ,  Jindrich Zejda ,  Peivand Fallah-Tehrani ,  Wenyuan Wang ,  Chi-Chong Lo ,  Mahmoud Shahram ,  Yansheng Luo ,  William Chiu-Ting Shu ,  Seyed Alireza Kasnavi

IPC分类号： G06F17/50 ,  G06F19/00 ,  G01R31/28 ,  G01R27/28 ,  G01R29/00

CPC分类号： G06F17/5036

摘要： One embodiment of the invention provides a system that characterizes cells within an integrated circuit. During operation, the system obtains a number of input noise signals to be applied to the cell. The system then simulates responses of the cell to each of the input noise signals, and stores a representation of the responses. This allows a subsequent analysis operation to access the stored representation to determine a response of the cell instead of having to perform a time-consuming simulation operation.

摘要翻译： 本发明的一个实施例提供了表征集成电路内的单元的系统。 在操作期间，系统获得要应用于单元的多个输入噪声信号。 然后，系统模拟单元对每个输入噪声信号的响应，并存储响应的表示。 这允许随后的分析操作访问存储的表示以确定单元的响应，而不必执行耗时的模拟操作。

公开(公告)号：US07587691B2

公开(公告)日：2009-09-08

申请号：US11599145

申请日：2006-11-14

申请人： Edhi Sutjahjo ,  Kishore Singhal ,  Byungwook Kim ,  Goetz Leonhardt ,  Beifang Qiu ,  Sergey Krasnovsky ,  Baribrata Biswas ,  Alex Gyure ,  Mahmoud Shahram

发明人： Edhi Sutjahjo ,  Kishore Singhal ,  Byungwook Kim ,  Goetz Leonhardt ,  Beifang Qiu ,  Sergey Krasnovsky ,  Baribrata Biswas ,  Alex Gyure ,  Mahmoud Shahram

IPC分类号： G06F17/50

CPC分类号： G06F17/5036 ,  G06F17/5018 ,  G06F2217/10 ,  G06F2217/78

摘要： One embodiment of the present invention provides a system for determining an electrical property for an interconnect layer. During operation, the system receives interconnect technology data which includes nominal parameter values for a first interconnect layer, and parameter-variation values which represent variations in the nominal parameter values due to random process variations. Next, the system receives an interconnect template which describes the geometry of a portion of a second interconnect layer. The system then determines electrical property data for the interconnect template using the interconnect technology data. The electrical property data can include a nominal electrical property value, and sensitivity values which represent the sensitivities of the nominal electrical property value to variations in the nominal parameter values. Next, the system stores the electrical property data and the interconnect technology data in a storage.

摘要翻译： 本发明的一个实施例提供一种用于确定互连层的电性能的系统。 在操作期间，系统接收包括第一互连层的标称参数值的互连技术数据，以及表示随机过程变化引起的标称参数值变化的参数变化值。 接下来，系统接收描述第二互连层的一部分的几何形状的互连模板。 然后，系统使用互连技术数据确定互连模板的电性能数据。 电性能数据可以包括标称电特性值，以及表示标称电特性值对标称参数值变化的灵敏度的灵敏度值。 接下来，系统将电气特性数据和互连技术数据存储在存储器中。

公开(公告)号：US20070124707A1

公开(公告)日：2007-05-31

申请号：US11599145

申请日：2006-11-14

申请人： Edhi Sutjahjo ,  Kishorc Singhal ,  Byungwook Kim ,  Goetz Leonhardt ,  Beifang Qiu ,  Sergey Krasnovsky ,  Baribrata Biswas ,  Alex Gyure ,  Mahmoud Shahram

发明人： Edhi Sutjahjo ,  Kishorc Singhal ,  Byungwook Kim ,  Goetz Leonhardt ,  Beifang Qiu ,  Sergey Krasnovsky ,  Baribrata Biswas ,  Alex Gyure ,  Mahmoud Shahram

IPC分类号： G06F17/50

CPC分类号： G06F17/5036 ,  G06F17/5018 ,  G06F2217/10 ,  G06F2217/78

摘要： One embodiment of the present invention provides a system for determining an electrical property for an interconnect layer. During operation, the system receives interconnect technology data which includes nominal parameter values for a first interconnect layer, and parameter-variation values which represent variations in the nominal parameter values due to random process variations. Next, the system receives an interconnect template which describes the geometry of a portion of a second interconnect layer. The system then determines electrical property data for the interconnect template using the interconnect technology data. The electrical property data can include a nominal electrical property value, and sensitivity values which represent the sensitivities of the nominal electrical property value to variations in the nominal parameter values. Next, the system stores the electrical property data and the interconnect technology data in a storage.

摘要翻译： 本发明的一个实施例提供一种用于确定互连层的电性能的系统。 在操作期间，系统接收包括第一互连层的标称参数值的互连技术数据，以及表示随机过程变化引起的标称参数值变化的参数变化值。 接下来，系统接收描述第二互连层的一部分的几何形状的互连模板。 然后，系统使用互连技术数据确定互连模板的电性能数据。 电性能数据可以包括标称电特性值，以及表示标称电特性值对标称参数值变化的灵敏度的灵敏度值。 接下来，系统将电气特性数据和互连技术数据存储在存储器中。