公开(公告)号：US20110161752A1

公开(公告)日：2011-06-30

申请号：US12651252

申请日：2009-12-31

申请人： BRYAN L. SPRY ,  THEODORE Z. SCHOENBORN ,  PHILIP ABRAHAM ,  CHRISTOPHER P. MOZAK ,  DAVID G. ELLIS ,  JAY J. NEJEDLO ,  BRUCE QUERBACH ,  ZVIKA GREENFIELD ,  RONY GHATTAS ,  JAYASEKHAR THOLIYIL ,  CHARLES D. LUCAS ,  CHRISTOPHER E. YUNKER

发明人： BRYAN L. SPRY ,  THEODORE Z. SCHOENBORN ,  PHILIP ABRAHAM ,  CHRISTOPHER P. MOZAK ,  DAVID G. ELLIS ,  JAY J. NEJEDLO ,  BRUCE QUERBACH ,  ZVIKA GREENFIELD ,  RONY GHATTAS ,  JAYASEKHAR THOLIYIL ,  CHARLES D. LUCAS ,  CHRISTOPHER E. YUNKER

IPC分类号： G11C29/04 ,  G06F11/22 ,  G06F12/08 ,  G06F12/02

CPC分类号： G11C29/08 ,  G11C29/10 ,  G11C29/44

摘要： REUT (Robust Electrical Unified Testing) for memory links is introduced which speeds testing, tool development, and debug. In addition it provides training hooks that have enough performance to be used by BIOS to train parameters and conditions that have not been possible with past implementations. Address pattern generation circuitry is also disclosed.

摘要翻译： 引入了用于存储器链接的REUT（鲁棒电气统一测试），可以加速测试，开发和调试。 此外，它还提供了具有足够性能的训练钩子，以供BIOS使用，以训练过去实施中不可能的参数和条件。 还公开了地址图案生成电路。