公开(公告)号：US07969168B1

公开(公告)日：2011-06-28

申请号：US12137029

申请日：2008-06-11

申请人： Chun-Yu Lin ,  Shiue-Shin Liu ,  Hsin-Yi Chen ,  Kang-Nin Lin

发明人： Chun-Yu Lin ,  Shiue-Shin Liu ,  Hsin-Yi Chen ,  Kang-Nin Lin

IPC分类号： G01R31/26 ,  G01R31/00

CPC分类号： G01R31/3167 ,  G01R31/3187

摘要： An embodiment of the invention provides an integrated circuit. The integrated circuit has an analog device-under-test (DUT), a memory receiving and storing a test program and a processor. The processor tests the analog DUT and outputs a test result in digital format by executing the test program, wherein the test result indicates whether the analog DUT workable according to a specification.

摘要翻译： 本发明的实施例提供一种集成电路。 集成电路具有模拟器件测试（DUT），存储器接收和存储测试程序和处理器。 处理器测试模拟DUT并通过执行测试程序输出数字格式的测试结果，其中测试结果指示模拟DUT是否可以根据规范工作。