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Patent Agency Ranking1.发明授权Measuring system for determining the mass of a dielectric material utilizing a capacitive probe at two frequencies 失效用于使用两个频率的电容探针确定电介质材料的质量的测量系统
公开(公告)号：US3155900A
公开(公告)日：1964-11-03
申请号：US4197560
申请日：1960-07-11
Applicant: INDUSTRIAL NUCLEONICS CORP
Inventor： HANKEN ALBERT F G
IPC: G01N27/22
CPC classification number: G01N27/223
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2.发明授权Backscatter thickness measuring gauge utilizing different energy levels of bremsstrahlung and two ionization chambers 失效使用不同能级的bre致辐射和两个电离室的后向散射测厚仪
公开(公告)号：US3412249A
公开(公告)日：1968-11-19
申请号：US38752564
申请日：1964-08-04
Applicant: INDUSTRIAL NUCLEONICS CORP
Inventor： HANKEN ALBERT F G
IPC: G01N23/203
CPC classification number: G01N23/203
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公开(公告)号：US3452192A
公开(公告)日：1969-06-24
申请号：US3452192D
申请日：1965-02-18
Applicant: INDUSTRIAL NUCLEONICS CORP
Inventor： HANKEN ALBERT F G
CPC classification number: G01N23/083 , G01N9/24
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4.发明授权System for quantitatively measuring one property of dielectric material by applying input signals at two different frequencies to a capacitance probe and varying one input signal to maintain a constant ratio of output signals for the two frequencies 失效用于通过将两个不同频率的输入信号施加到电容探针并改变一个输入信号来定量测量介电材料的一个性质的系统，以维持两个频率的输出信号的恒定比率
公开(公告)号：US3155901A
公开(公告)日：1964-11-03
申请号：US10779461
申请日：1961-05-04
Applicant: INDUSTRIAL NUCLEONICS CORP
Inventor： HANKEN ALBERT F G
IPC: G01N27/22
CPC classification number: G01N27/223
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公开(公告)号：US3044297A
公开(公告)日：1962-07-17
申请号：US5622060
申请日：1960-09-15
Applicant: INDUSTRIAL NUCLEONICS CORP
Inventor： HANKEN ALBERT F G
IPC: G01J5/00
CPC classification number: G01J5/0022
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