公开(公告)号：US20160255318A1

公开(公告)日：2016-09-01

申请号：US15026553

申请日：2013-11-22

Applicant: INTEL CORPORATION

Inventor： Eric Chevallaz ,  Nicolas Abele

IPC: H04N9/31 ,  G01R31/02 ,  H03K19/21 ,  G02B26/08 ,  H03K5/24

CPC classification number: H04N9/3194 ,  G01R31/025 ,  G01R31/026 ,  G02B26/0833 ,  G02B26/085 ,  G09G3/346 ,  G09G2330/04 ,  G09G2330/12 ,  H03K5/24 ,  H03K19/215 ,  H04N9/3135 ,  H04N9/3155

Abstract: According to the present invention there is provided methods and devices for detecting open and/or short circuits in MEMS micro-mirror devices, which use relative comparisons of voltage levels within the MEMS micro-mirror devices for detecting the occurrence of open and/or short circuits.

Abstract translation: 根据本发明，提供了用于检测MEMS微镜器件中的开路和/或短路的方法和装置，其利用MEMS微镜器件内的电压电平的相对比较来检测开路和/或短路的发生 电路。