公开(公告)号：US20070079199A1

公开(公告)日：2007-04-05

申请号：US11465080

申请日：2006-08-16

申请人： James Chorn ,  Thomas Hudiburgh ,  Jay Nejedlo ,  Edward Simpson ,  Walter Coldewey

发明人： James Chorn ,  Thomas Hudiburgh ,  Jay Nejedlo ,  Edward Simpson ,  Walter Coldewey

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/318583 ,  G01R31/31855

摘要： Methods and apparatus for performing a data driven test on a circuit including at least one built-in-self-test compatible device. In one embodiment, the method includes describing the device using a descriptive language including setting at least one default value associated with the device. The method also includes defining a scan path associated with the device, defining a netlist of the circuit, and configuring a test control program for the circuit. Additionally, the method includes changing the default value associated with the device. Testing the circuit after changing the value and using the test control program is also included wherein a portion of the test control program associated with the value remains substantially unmodified.

摘要翻译： 在包括至少一个内置自测兼容装置的电路上执行数据驱动测试的方法和装置。 在一个实施例中，该方法包括使用描述语言描述设备，包括设置与设备相关联的至少一个默认值。 该方法还包括定义与设备相关联的扫描路径，定义电路的网表，以及配置电路的测试控制程序。 此外，该方法包括更改与设备相关联的默认值。 还包括在更改值和使用测试控制程序之后测试电路，其中与该值相关联的测试控制程序的一部分基本上未被修改。