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    Method and apparatus for calibrating an imaging system
    1.
    发明授权
    Method and apparatus for calibrating an imaging system 失效
    用于校准成像系统的方法和装置

    公开(公告)号：US06632020B2

    公开(公告)日：2003-10-14

    申请号：US09975892

    申请日：2001-10-12

    申请人： John Patrick Kaufhold ,  John Eric Tkaczyk ,  Dinko E. Gonzalez Trotter ,  Jeffrey Wayne Eberhard ,  Jerry A. Thomas

    发明人： John Patrick Kaufhold ,  John Eric Tkaczyk ,  Dinko E. Gonzalez Trotter ,  Jeffrey Wayne Eberhard ,  Jerry A. Thomas

    IPC分类号： G01D1800

    CPC分类号： A61B6/583 ,  A61B6/4035 ,  A61B6/482

    摘要： A method for calibration of an imaging system includes providing a calibration phantom system including a first phantom element material block having a first surface at a first height, wherein the first phantom element material block at least partially includes a first material having a first attenuation coefficient. Providing a calibration phantom system also includes providing a second phantom element material block having a second surface at a second height different than the first height, the second phantom element material block at least partially including a second material having a second attenuation coefficient different than the first attenuation coefficient, wherein the first phantom element material block and said second phantom element material block are co-positioned on a detector. The method also includes imaging the calibration phantom system to obtain phantom images, processing the phantom images, and extracting a plurality of calibration values from the processed phantom images.

    摘要翻译： 一种用于校准成像系统的方法包括提供校准体模系统，该校准体模系统包括具有在第一高度处的第一表面的第一体模元件材料块，其中第一体模元件材料块至少部分地包括具有第一衰减系数的第一材料。 提供校准体模系统还包括提供具有不同于第一高度的第二高度处的第二表面的第二假想元件材料块，第二体模元件材料块至少部分地包括具有不同于第一高度的第二衰减系数的第二材料 衰减系数，其中第一幻像元件材料块和所述第二幻像元件材料块共同定位在检测器上。 该方法还包括对校准体模系统进行成像以获得幻影图像，处理幻影图像，以及从经处理的幻影图像中提取多个校准值。