公开(公告)号：US20080155846A1

公开(公告)日：2008-07-03

申请号：US11945512

申请日：2007-11-27

申请人： LEI LI ,  ZHI CHENG ,  PING CHEN ,  JI-WEN YANG ,  LIN-SEN DONG ,  CHANG-FA SUN

发明人： LEI LI ,  ZHI CHENG ,  PING CHEN ,  JI-WEN YANG ,  LIN-SEN DONG ,  CHANG-FA SUN

IPC分类号： G01B5/20

CPC分类号： G01B5/285 ,  G01B3/22

摘要： A measuring system (100) for flatness degree measurement includes a measuring instrument (10) and a processing device (20). The measuring instrument has a base (12), a guide column (14), a sliding member (16), a digital micrometer (18) and a holding member (19). The guide column is vertically attached to the base. The sliding member is moveably attached to the guide column. The digital micrometer is firmly fastened to the sliding member. The holding member is configured for fixing a workpiece (40) and has a reference-standard surface formed thereon. The processing device electronically connects with the digital micrometer. The processing device receives a plurality of measured values from the digital micrometer and displays a testing result after processing the measured values.

摘要翻译： 用于平坦度测量的测量系统（100）包括测量仪器（10）和处理设备（20）。 测量仪器具有底座（12），导柱（14），滑动构件（16），数字测微器（18）和保持构件（19）。 引导柱垂直连接到基座。 滑动构件可移动地附接到导向柱。 数字测微计牢固地固定在滑动构件上。 保持构件用于固定工件（40）并具有形成在其上的基准标准表面。 处理装置与数字千分尺电子连接。 处理装置从数字千分尺接收多个测量值，并在处理测量值之后显示测试结果。