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发明授权
System, method, and computer program product for testing and re-testing integrated circuits 有权
标题翻译：用于测试和重新测试集成电路的系统，方法和计算机程序产品

公开(公告)号：US07835881B1

公开(公告)日：2010-11-16

申请号：US11739610

申请日：2007-04-24

申请人： Maxim Zverev , Paul Brandariz , Robert Easton , Jason Saw

发明人： Maxim Zverev , Paul Brandariz , Robert Easton , Jason Saw

IPC分类号： G01R31/00 , G01R31/14 , G01R31/26

CPC分类号： G01R31/2894

摘要： A system, method, and computer program product are provided for testing and re-testing integrated circuits. In use, a group of integrated circuits is tested. In use, before finishing the test, at least one of the integrated circuits of the group is re-tested.

摘要翻译： 提供了一种用于测试和重新测试集成电路的系统，方法和计算机程序产品。在使用中，测试了一组集成电路。在使用中，在完成测试之前，该组中的至少一个集成电路被重新测试。