公开(公告)号：US4458173A

公开(公告)日：1984-07-03

申请号：US463963

申请日：1983-02-04

申请人： Peter Kaufman ,  John J. Sharkey ,  John Echols

发明人： Peter Kaufman ,  John J. Sharkey ,  John Echols

IPC分类号： H03K17/94 ,  H03K17/96 ,  H01L41/08

CPC分类号： H03K17/94 ,  H03K17/964

摘要： A device is disclosed which is useful to generate electric signals particularly in close quarters. The preferred embodiment is described in terms of a piezoelectric signal generator incorporated into the beltline trim of an automobile and an alternate configuration in a flat sheet metal application. The invention is discussed in terms of its ability to take advantage of already existing structural elements of its host body and its ability to be attached without putting holes in such structure.

摘要翻译： 公开了一种可用于特别在近距离产生电信号的装置。 根据结合到汽车的带状装饰件中的压电信号发生器和平板金属应用中的替代构造来描述优选实施例。 根据其本身主体的已有现有结构元件的能力及其在这种结构中没有孔的连接能力的能力来讨论本发明。

公开(公告)号：USD459671S1

公开(公告)日：2002-07-02

申请号：US29141844

申请日：2001-05-14

申请人： Peter Kaufman ,  Garrett Kaufman ,  John Echols ,  Richard W. Foster

设计人： Peter Kaufman ,  Garrett Kaufman ,  John Echols ,  Richard W. Foster

公开(公告)号：USD491087S1

公开(公告)日：2004-06-08

申请号：US29171923

申请日：2002-12-03

申请人： Peter Kaufman ,  Garrett Kaufman ,  John Echols

设计人： Peter Kaufman ,  Garrett Kaufman ,  John Echols

公开(公告)号：US20130257438A1

公开(公告)日：2013-10-03

申请号：US13851758

申请日：2013-03-27

申请人： Douglas Hogg ,  John Echols

发明人： Douglas Hogg ,  John Echols

IPC分类号： G01R31/327

CPC分类号： G01R31/3277 ,  G01R31/3278 ,  H01H11/0062 ,  H01H36/0006

摘要： A method of testing a circuit assembly that includes a piezoelectric switch may include driving a DC current into the piezoelectric switch. The method may further include measuring the time interval it takes to develop a predetermined voltage across the piezoelectric switch and comparing the measured time interval with a first predetermined time interval and a second predetermined time interval. The method may include identifying the circuit assembly as defective when the measured time interval is either less than the first predetermined time interval or more than the second predetermined time interval, and otherwise identifying the circuit assembly is operational.

摘要翻译： 测试包括压电开关的电路组件的方法可以包括将DC电流驱动到压电开关中。 该方法还可以包括测量在压电开关两端产生预定电压所需的时间间隔，并将所测量的时间间隔与第一预定时间间隔和第二预定时间间隔进行比较。 当测量的时间间隔小于第一预定时间间隔或大于第二预定时间间隔时，该方法可以包括将电路组件识别为有缺陷的，否则识别电路组件是可操作的。