公开(公告)号：US20100312494A1

公开(公告)日：2010-12-09

申请号：US12810597

申请日：2007-12-28

申请人： Sanghamithra Korukonda ,  Sandeep Dewangan ,  William Stewart McKnight ,  Gigi Gambrell ,  Changting Wang ,  Ui Suh

发明人： Sanghamithra Korukonda ,  Sandeep Dewangan ,  William Stewart McKnight ,  Gigi Gambrell ,  Changting Wang ,  Ui Suh

IPC分类号： G01N27/90 ,  G06F19/00 ,  G01R35/00

CPC分类号： G01N27/9046 ,  G01N27/904

摘要： A method for testing a component using an eddy current array probe is provided. The method includes calibrating the eddy current array probe, collecting data from the eddy current array probe for analysis, and processing the collected data to at least one of compensate for response variations due to a detected orientation of a detected imperfection and to facilitate minimizing noise.

摘要翻译： 提供了使用涡流阵列探针测试部件的方法。 该方法包括校准涡流阵列探头，从涡流阵列探头收集数据用于分析，并且将收集的数据处理至少一个，以补偿由于检测到的缺陷的检测到的取向引起的响应变化，并且有助于最小化噪声。

公开(公告)号：US20110004452A1

公开(公告)日：2011-01-06

申请号：US12810734

申请日：2007-12-31

申请人： Sanghamithra Korukonda ,  Sandeep Dewangan ,  Preeti Pisupati ,  William Stewart McKnight ,  Gigi Gambrell ,  Ui Suh ,  Changting Wang

发明人： Sanghamithra Korukonda ,  Sandeep Dewangan ,  Preeti Pisupati ,  William Stewart McKnight ,  Gigi Gambrell ,  Ui Suh ,  Changting Wang

IPC分类号： G06F17/11 ,  G06F17/10

CPC分类号： G01N27/904 ,  G01N27/9046

摘要： A method of inspecting a component using an eddy current array probe (ECAP) is provided. The method includes scanning a surface of the component with the ECAP, collecting, with the ECAP, a plurality of partial defect responses, transferring the plurality of partial defect responses to a processor, modeling the plurality of partial defect responses as mathematical functions based on at least one of a configuration of elements of the ECAP and a resolution of the elements, and producing a single maximum defect response from the plurality of partial defect responses.

摘要翻译： 提供了使用涡流阵列探针（ECAP）检查部件的方法。 该方法包括用ECAP扫描组件的表面，与ECAP收集多个部分缺陷响应，将多个部分缺陷响应传送到处理器，将多个部分缺陷响应建模为数学函数，基于 ECAP的元件的构造中的至少一个和元件的分辨率，以及从多个部分缺陷响应产生单个最大缺陷响应。