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    Methods and apparatus for testing a component
    3.
    发明申请
    Methods and apparatus for testing a component 失效
    用于测试组件的方法和设备

    公开(公告)号：US20070140546A1

    公开(公告)日：2007-06-21

    申请号：US11314513

    申请日：2005-12-21

    申请人： Ui Suh ,  Gigi Gambrell ,  William McKnight ,  Preeti Pisupati

    发明人： Ui Suh ,  Gigi Gambrell ,  William McKnight ,  Preeti Pisupati

    IPC分类号： G06K9/00 ,  G01B5/28

    CPC分类号： G01N27/9046

    摘要： A method for inspecting a component having a surface profile that includes a local minima and a local maxima. The method includes generating a raw image of a component under test utilizing an eddy current inspection system, decomposing the raw image into a plurality of images wherein each image includes a different frequency component, and reconstructing at least one final image of the component that includes frequency components that are relevant to an eddy current flaw signal.

    摘要翻译： 一种用于检查具有包括局部最小值和局部最大值的表面轮廓的部件的方法。 该方法包括使用涡流检测系统生成待测部件的原始图像，将原始图像分解成多个图像，其中每个图像包括不同的频率分量，以及重构包括频率的分量的至少一个最终图像 与涡流缺陷信号相关的部件。

    Inspection method and system using multifrequency phase analysis
    4.
    发明授权
    Inspection method and system using multifrequency phase analysis 有权
    检验方法和系统采用多频相分析

    公开(公告)号：US07206706B2

    公开(公告)日：2007-04-17

    申请号：US11210119

    申请日：2005-08-22

    申请人： Changting Wang ,  William Stewart McKnight ,  Ui Suh ,  Serkan Ertekin

    发明人： Changting Wang ,  William Stewart McKnight ,  Ui Suh ,  Serkan Ertekin

    IPC分类号： G06F19/00

    CPC分类号： G01N27/9046 ,  G01N27/9086

    摘要： A method for inspecting a part is provided. The method includes applying a number of multifrequency excitation signals to a probe to generate a number of multifrequency response signals for the part being inspected. The method further includes performing a multifrequency phase analysis on the multifrequency response signals to inspect a subsurface of the part. An inspection system is provided and includes an eddy current (EC) probe configured to induce eddy currents in a part. The system further includes an eddy current instrument coupled to the EC probe and configured to apply multifrequency excitation signals to the EC probe to generate multifrequency response signals. The system further includes a processor configured to analyze the multifrequency response signals from the EC instrument by performing a multifrequency phase analysis, to inspect a subsurface of the part.

    摘要翻译： 提供了一种用于检查零件的方法。 该方法包括将多个多频激励信号应用于探针，以产生被检测部分的多个多频响应信号。 该方法还包括对多频响应信号执行多频相分析以检查该部分的地下。 提供了一种检查系统，并且包括涡流（EC）探针，其配置成在部件中感应涡流。 该系统还包括耦合到EC探头并被配置为向EC探头施加多频激励信号以产生多频响应信号的涡流仪器。 该系统还包括处理器，其被配置为通过执行多频相分析来分析来自EC仪器的多频响应信号，以检查该部件的地下。

    FLEXIBLE EDDY CURRENT ARRAY PROBE AND METHODS OF ASSEMBLING THE SAME
    6.
    发明申请
    FLEXIBLE EDDY CURRENT ARRAY PROBE AND METHODS OF ASSEMBLING THE SAME 失效
    柔性EDDY电流阵列探针及其组装方法

    公开(公告)号：US20090115411A1

    公开(公告)日：2009-05-07

    申请号：US11935077

    申请日：2007-11-05

    申请人： Haiyan Sun ,  Yuri Plotnikov ,  Changting Wang ,  William Stewart McKnight ,  Ui Suh

    发明人： Haiyan Sun ,  Yuri Plotnikov ,  Changting Wang ,  William Stewart McKnight ,  Ui Suh

    IPC分类号： G01N27/90 ,  H01F41/00

    CPC分类号： G01N27/9033 ,  Y10T29/4902

    摘要： A method of assembling an eddy current probe for use in nondestructive testing of a sample is described. The method includes positioning at least one substantially planar spiral drive coil within the eddy current probe, such that the drive coil is at least one of adjacent to and at least partially within a flexible material. The method further includes coupling at least one unpackaged solid-state magnetic field sensor to the at least one drive coil.

    摘要翻译： 描述了组装用于样品的非破坏性测试的涡流探针的方法。 该方法包括将至少一个基本上平面的螺旋驱动线圈定位在涡流探针内，使得驱动线圈是与柔性材料相邻并且至少部分地在柔性材料内的至少一个。 该方法还包括将至少一个未封装的固态磁场传感器耦合到至少一个驱动线圈。

    Flexible eddy current array probe and methods of assembling the same
    7.
    发明授权
    Flexible eddy current array probe and methods of assembling the same 失效
    灵活的涡流阵列探头及其组装方法

    公开(公告)号：US07952348B2

    公开(公告)日：2011-05-31

    申请号：US11935077

    申请日：2007-11-05

    申请人： Haiyan Sun ,  Yuri Plotnikov ,  Changting Wang ,  William Stewart McKnight ,  Ui Suh

    发明人： Haiyan Sun ,  Yuri Plotnikov ,  Changting Wang ,  William Stewart McKnight ,  Ui Suh

    IPC分类号： G01N27/82 ,  G01R33/12

    CPC分类号： G01N27/9033 ,  Y10T29/4902

    摘要： A method of assembling an eddy current probe for use in nondestructive testing of a sample is described. The method includes positioning at least one substantially planar spiral drive coil within the eddy current probe, such that the drive coil is at least one of adjacent to and at least partially within a flexible material. The method further includes coupling at least one unpackaged solid-state magnetic field sensor to the at least one drive coil.

    摘要翻译： 描述了组装用于样品的非破坏性测试的涡流探针的方法。 该方法包括将至少一个基本上平面的螺旋驱动线圈定位在涡流探针内，使得驱动线圈是与柔性材料相邻并且至少部分地在柔性材料内的至少一个。 该方法还包括将至少一个未封装的固态磁场传感器耦合到至少一个驱动线圈。

    Methods and apparatus for testing a component
    9.
    发明申请
    Methods and apparatus for testing a component 有权
    用于测试组件的方法和设备

    公开(公告)号：US20060109001A1

    公开(公告)日：2006-05-25

    申请号：US10993467

    申请日：2004-11-19

    申请人： Ui Suh ,  Gigi Gambrell ,  John Ertel ,  William McKnight

    发明人： Ui Suh ,  Gigi Gambrell ,  John Ertel ,  William McKnight

    IPC分类号： G01N27/72

    CPC分类号： G01B7/28 ,  G01N27/902 ,  G01N27/9033

    摘要： A method for inspecting a component having a surface profile that includes a local minima and a local maxima. The method includes positioning an eddy current probe proximate to a surface of the component to generate a first position indication, positioning the eddy current probe proximate to the surface of the component to generate a second position indication that is different than the first position indication, and interpolating between the first and second position indications to determine a profile of a portion of the surface of the component.

    摘要翻译： 一种用于检查具有包括局部最小值和局部最大值的表面轮廓的部件的方法。 该方法包括将涡流探针定位在部件的表面附近以产生第一位置指示，将涡流探针定位在部件的表面附近以产生与第一位置指示不同的第二位置指示，以及 在第一和第二位置指示之间插值以确定部件表面的一部分的轮廓。

    Methods and apparatus for testing a component
    10.
    发明申请
    Methods and apparatus for testing a component 失效
    用于测试组件的方法和设备

    公开(公告)号：US20060023961A1

    公开(公告)日：2006-02-02

    申请号：US10909198

    申请日：2004-07-30

    申请人： Ui Suh ,  Gigi Gambrell ,  John Ertel ,  William McKnight

    发明人： Ui Suh ,  Gigi Gambrell ,  John Ertel ,  William McKnight

    IPC分类号： G06K9/46

    CPC分类号： G01N27/9013 ,  G01N27/9046 ,  G01N27/9073

    摘要： A method for inspecting a component. The method includes generating a scan plan of a component to be inspected, coupling a side-mount probe to an eddy current inspection system, inducing an eddy current into the component, measuring the eddy current in the component to generate a plurality of scan data, and analyzing the scan data to generate at least one image of the component being inspected.

    摘要翻译： 检查元件的方法。 该方法包括产生要检查的部件的扫描方案，将侧安装探针耦合到涡流检查系统，将涡流引入到部件中，测量部件中的涡流以产生多个扫描数据， 以及分析所述扫描数据以生成被检测部件的至少一个图像。