公开(公告)号：US07343507B2

公开(公告)日：2008-03-11

申请号：US10885412

申请日：2004-07-07

申请人： Stefan Grosser ,  Mario Maier ,  Reinhard Mark ,  Monika Singer

发明人： Stefan Grosser ,  Mario Maier ,  Reinhard Mark ,  Monika Singer

IPC分类号： G06F1/12

CPC分类号： H04L25/0292 ,  H03K5/135 ,  H03K2005/00247

摘要： An input circuit (1′) provided with a time delay element (40), which circuit is capable of being tested by a controlled high level or low level connection, and a method for the operation thereof. The delay time of the time-delay element can be modified during operation of the input circuit. In particular, the elapsed delay time is read out prior to the testing of the input circuit and is restored again after testing, so that the test does not increase the effective input delay time for the process signals. In addition or as an alternative, the delay time is set to a minimum value prior to the test to enable rapid testing of the input circuit independent of the set delay time.

摘要翻译： 设置有时间延迟元件（40）的输入电路（1'），该电路能够通过受控的高电平或低电平连接进行测试，以及用于其操作的方法。 可以在输入电路的操作期间修改延时元件的延迟时间。 具体来说，在测试输入电路之前读出经过的延迟时间，并在测试之后再次恢复，这样测试不会增加过程信号的有效输入延迟时间。 另外或作为替代方案，在测试之前将延迟时间设置为最小值，以使能独立于设定延迟时间的输入电路的快速测试。

公开(公告)号：US20050030682A1

公开(公告)日：2005-02-10

申请号：US10885412

申请日：2004-07-07

申请人： Stefan Grosser ,  Mario Maier ,  Reinhard Mark ,  Monika Singer

发明人： Stefan Grosser ,  Mario Maier ,  Reinhard Mark ,  Monika Singer

IPC分类号： H03K5/00 ,  H03K5/135 ,  H04L25/02 ,  H02H7/00

CPC分类号： H04L25/0292 ,  H03K5/135 ,  H03K2005/00247

摘要： An input circuit (1′) provided with a time delay element (40), which circuit is capable of being tested by a controlled high level or low level connection, and a method for the operation thereof. The delay time of the time-delay element can be modified during operation of the input circuit. In particular, the elapsed delay time is read out prior to the testing of the input circuit and is restored again after testing, so that the test does not increase the effective input delay time for the process signals. In addition or as an alternative, the delay time is set to a minimum value prior to the test to enable rapid testing of the input circuit independent of the set delay time.

摘要翻译： 设置有时间延迟元件（40）的输入电路（1'），该电路能够通过受控的高电平或低电平连接进行测试，以及用于其操作的方法。 可以在输入电路的操作期间修改延时元件的延迟时间。 具体来说，在测试输入电路之前读出经过的延迟时间，并在测试之后再次恢复，这样测试不会增加过程信号的有效输入延迟时间。 另外或作为替代方案，在测试之前将延迟时间设置为最小值，以使能独立于设定延迟时间的输入电路的快速测试。