公开(公告)号：US20100085749A1

公开(公告)日：2010-04-08

申请号：US12558624

申请日：2009-09-14

申请人： Vitaly Bezgachev ,  Marc Hemsendorf ,  Christian Probst ,  Stefan Recht ,  Stephanus Wansleben

发明人： Vitaly Bezgachev ,  Marc Hemsendorf ,  Christian Probst ,  Stefan Recht ,  Stephanus Wansleben

IPC分类号： F21V1/00 ,  F21V3/00 ,  G01N21/88 ,  G01B11/28

CPC分类号： G01N21/9505 ,  G01N21/8806

摘要： A method of examining an object containing a polycrystalline material, in which at least one part of the surface of the object is illuminated with substantially isotropic light, as well as a illumination device for carrying out the method. In this manner, the polycrystalline material is less influenced by the different reflection characteristics of individual particles of the polycrystalline material.

摘要翻译： 一种检查包含多晶材料的物体的方法，其中物体的表面的至少一部分被基本上各向同性的光照射，以及用于执行该方法的照明装置。 以这种方式，多晶材料不太受多晶材料的各个颗粒的不同反射特性的影响。

公开(公告)号：US09250197B2

公开(公告)日：2016-02-02

申请号：US12558624

申请日：2009-09-14

申请人： Vitaly Bezgachev ,  Marc Hemsendorf ,  Christian Probst ,  Stefan Recht ,  Stephanus Wansleben

发明人： Vitaly Bezgachev ,  Marc Hemsendorf ,  Christian Probst ,  Stefan Recht ,  Stephanus Wansleben

IPC分类号： F21V33/00 ,  G01N21/95 ,  G01N21/88

CPC分类号： G01N21/9505 ,  G01N21/8806

摘要： A method of examining an object containing a polycrystalline material, in which at least one part of the surface of the object is illuminated with substantially isotropic light, as well as a illumination device for carrying out the method. In this manner, the polycrystalline material is less influenced by the different reflection characteristics of individual particles of the polycrystalline material.

摘要翻译： 一种检查包含多晶材料的物体的方法，其中物体的表面的至少一部分被基本上各向同性的光照射，以及用于执行该方法的照明装置。 以这种方式，多晶材料不太受多晶材料的各个颗粒的不同反射特性的影响。