半導体装置及びプログラムデータ冗長方法
    1.
    发明申请
    半導体装置及びプログラムデータ冗長方法 审中-公开
    半导体器件和程序数据冗余方法

    公开(公告)号:WO2006129345A1

    公开(公告)日:2006-12-07

    申请号:PCT/JP2005/009882

    申请日:2005-05-30

    CPC classification number: G11C29/76

    Abstract:  通常用セルアレイ部30と、通常用セルアレイ部30に対する冗長セルアレイ部31と、通常用セルアレイ部30のセクタへのプログラムに失敗すると、プログラムに失敗したデータと、通常用セルアレイ部30のセクタ内にすでに書き込まれているデータとを冗長セルアレイ部31に再プログラムするPGM/ERステートマシン20を有している。プログラムに失敗すると、プログラムに失敗したデータと、セクタ内にすでに書き込まれているデータとを冗長セルアレイ部31に再プログラムするようにしたので、データの消失を防止しデータを保証することができる。従って、システムの信頼性を向上させることができる。

    Abstract translation: 半导体器件包括正常单元阵列单元(30),用于正常单元阵列单元(30)的冗余单元阵列单元(31),以及PGM / ER状态机(20),当编程到正常单元阵列单元 单元阵列单元(30)已经失败,用于对未编程的数据和已经写入冗余单元阵列单元(31)中的正常单元阵列单元(30)的扇区中的数据进行重新编程。 当编程失败时,在冗余单元阵列单元(31)中重新编程未被编程的数据和已写入扇区中的数据。 因此,可以防止数据丢失和保证数据。 这提高了系统的可靠性。

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