광원특성 검사 시스템 및 이를 이용한 검사방법
    1.
    发明申请
    광원특성 검사 시스템 및 이를 이용한 검사방법 审中-公开
    光学特性检测系统及其检测方法

    公开(公告)号:WO2010104291A2

    公开(公告)日:2010-09-16

    申请号:PCT/KR2010/001401

    申请日:2010-03-05

    CPC classification number: G01J3/50 G01J3/505 G01J3/506

    Abstract: 본 발명은 검사대상광원에 대한 제조상태를 신속하고 정확하게 검사할 수 있는 광원특성 검사 시스템 및 검사방법에 관한 것이다다. 이를 위해 본 발명은 검사 대상이 되는 복수개의 검사대상광원과 각각 일대일 대응되도록 구비되며, 구획된 영역에서 상기 검사대상광원에서 발광되는 빛을 측정하는 복수개의 컬러센서, 상기 컬러센서에서 측정된 데이터를 바탕으로 상기 검사대상광원에 대한 특성값을 산출하는 제어부, 그리고 상기 복수개의 검사대상광원이 기판상에 일정간격으로 배열된 검사대상광원 모듈을 반입하여 상기 검사대상광원들이 상기 컬러센서와 일대일 대응되는 위치에 배치되어 고정되도록 하는 설치유닛을 포함하는 광원특성 검사 시스템 및 검사방법을 제공한다.

    Abstract translation: 光学特性检查系统和检查方法技术领域本发明涉及一种能够以快速且准确的方式检查制造的光源的质量的光学特性检查系统和检查方法。 为此,本发明提供了一种光学特性检查系统,包括:多个颜色传感器,其布置成对应于要检查的各个光源,并且在限定区域中测量从待检查的光源发出的光; 控制单元,其基于由颜色传感器测量的数据来计算要检查的光源的特性的值; 以及携带光源模块的安装单元,其中待检查的光源以预定间隔排列,并且在对应于各个颜色传感器的各个位置处固定要检查的光源。 本发明还提供一种检查方法。

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