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    VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR VERMESSUNG VON OBERFLÄCHEN
    1.
    发明申请
    VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR VERMESSUNG VON OBERFLÄCHEN 审中-公开
    设备和方法测量表面

    公开(公告)号：WO2012139570A1

    公开(公告)日：2012-10-18

    申请号：PCT/DE2012/200014

    申请日：2012-03-14

    Applicant: INB VISION AG ,  LILIENBLUM, Tilo ,  SCHMIDT, Wolfram

    Inventor： LILIENBLUM, Tilo ,  SCHMIDT, Wolfram

    IPC: G01B21/20 ,  G01B21/30

    CPC classification number: G06T7/604 ,  G01B11/24 ,  G01B21/20 ,  G01B21/30 ,  G06T7/64 ,  G06T2207/20024

    Abstract: Ein Verfahren zur Erkennung und Vermessung von lokalen Formabweichungen in ebenen, gekrümmten oder gewölbten Oberflächen eines Prüfobjekts, wobei dreidimensionale Messdaten (D) der Oberflächen mit einer Auswerteeinrichtung ausgewertet werden, ist im Hinblick auf eine zerstörungsfreie Prüfung von Prüfobjekten mit objektiven und einfach zu interpretierenden Bewertungsergebnissen derart ausgestaltet und weitergebildet, dass die Auswerteeinrichtung mindestens ein virtuelles Filterelement als Konkavfilter zum Erkennen konkaver Teilbereiche in ebenen oder konvexen Oberflächen und/oder als Konvexfilter zum Erkennen konvexer Teilbereiche in ebenen oder konkaven Oberflächen einsetzt, dass das Filterelement Beträge der Formabweichungen ermittelt und dass diese über eine Ausgabeeinrichtung als Messwerte ausgegeben werden. Eine Vorrichtung zur Durchführung eines entsprechenden Verfahrens ist angegeben.

    Abstract translation: 一种用于在测试物体的平的，弯曲的或曲面的检测和局部偏差的测量的形状的方法，所述三维测量的数据（D）被评估与分析装置的表面上，是例如相对于与物镜和简单的测试对象的非破坏性测试来解释评价结果 设计和开发，使得分析装置经由使用至少一个虚拟过滤器元件作为Konkavfilter用于平坦或凸形表面检测凹部和/或作为Konvexfilter用于检测在平的或凹的表面的凸部，该过滤器元件检测到的偏差的大小的形状，并且这些 输出装置是作为测量值输出。 用于执行相应方法的装置被指定。

    VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR BILDERFASSUNG EINER VORZUGSWEISE STRUKTURIERTEN OBERFLÄCHE EINES OBJEKTS
    2.
    发明申请
    VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR BILDERFASSUNG EINER VORZUGSWEISE STRUKTURIERTEN OBERFLÄCHE EINES OBJEKTS 审中-公开
    装置和方法图像采集对象的优选的结构化表面，

    公开(公告)号：WO2017005254A1

    公开(公告)日：2017-01-12

    申请号：PCT/DE2016/200226

    申请日：2016-05-12

    Applicant: INB VISION AG

    Inventor： WIEST, Hagen ,  SCHMIDT, Wolfram ,  WAGNER, Robert

    IPC: G01B11/25

    CPC classification number: G01B11/2527 ,  G01B11/2513

    Abstract: Im Hinblick auf eine schnelle und sehr genaue Rekonstruktion eines Objekts sind eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Bilderfassung einer vorzugsweise strukturierten Oberfläche eines Objekts (6) bereitgestellt, mit mindestens einer Musterprojektionseinheit zur Beleuchtung des Objekts (6) und mindestens einer Abbildungseinheit (7) zur Aufnahme von Bildern projizierter Muster, wobei eine zeitliche und/oder räumliche Auswertung aufgenommener Bilder oder Bildfolgen zur Rekonstruktion der Oberfläche erfolgt. Die mindestens eine Musterprojektionseinheit ist zur Erzeugung von Mustern unter Verwendung einer Beugung von Licht an einem optischen Gitter ausgebildet. Des Weiteren ist das Verfahren zur Bilderfassung dadurch gekennzeichnet, dass anhand der zeitlichen und/oder räumlichen Auswertung der aufgenommenen Bilder oder Bildfolgen über Algorithmen korrespondierende Bildpunkte ermittelt werden, die gemeinsam mit einer Abbildungsfunktion eine Triangulation von Oberflächenpunkten ermöglichen.

    Abstract translation: 关于一个对象的装置和用于对物体成像的优选结构化的表面的方法的快速且非常准确的重建（6）设置有至少一个图案投影单元，其用于照射所述物体（6）和至少一个成像单元，用于接收（7） 投影的图案，所捕获的图像或图像序列的时间和/或空间分析图像被用于表面的重建进行。 所述至少一个图案投影单元被设计用于使用光的衍射光栅图案。 此外，用于图像捕获其特征在于，对应的像素的过程中，确定基于图像的所捕获的图像或序列的上算法，其允许的表面点的三角测量，具有映射函数沿时间和/或空间分析。

    VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM ERKENNEN VON ABWEICHUNGEN EINER OBERFLÄCHE EINES OBJEKTS
    4.
    发明申请
    VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM ERKENNEN VON ABWEICHUNGEN EINER OBERFLÄCHE EINES OBJEKTS 审中-公开
    方法和设备识别差异表面的对象

    公开(公告)号：WO2014032661A1

    公开(公告)日：2014-03-06

    申请号：PCT/DE2013/200076

    申请日：2013-07-25

    Applicant: INB VISION AG

    Inventor： MICHAELIS, Bernd ,  LILIENBLUM, Tilo ,  VON ENZBERG, Sebastian

    IPC: G01B21/04 ,  G01B21/20 ,  G06T17/30

    CPC classification number: G01B21/30 ,  G01B21/047 ,  G01B21/20 ,  G06T17/30

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Erkennen von Abweichungen einer Oberfläche eines Objektes anhand eines Vergleichs von Messdaten der Oberfläche und vorgegebenen Referenzdaten, wobei mittels der vorgegebenen Referenzdaten eine zumindest abschnittsweise parametrische Beschreibung der Oberfläche als Soll-Oberflächenmodell erstellt wird und der Vergleich mittels des Soll-Oberflächenmodells und der Messdaten durchgeführt wird. Die Erfindung betrifft ebenfalls eine Vorrichtung zum Erkennen von Abweichungen einer Oberfläche eines Objektes anhand eines Vergleichs von Messdaten der Oberfläche und vorgegebenen Referenzdaten.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于检测基于所述表面和预先设定的基准数据，其中所述表面的至少部分地参数化描述被作为设计表面模型使用所述规定的基准数据和所述目标表面模型的比较装置产生的测量数据的比较的对象的表面的偏差 并进行测量的数据。 本发明还涉及一种设备，用于检测基于所述表面的测量的数据和规定的基准数据的比较的对象的表面的偏差。

    VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR DREIDIMENSIONALEN OPTISCHEN VERMESSUNG VON OBERFLÄCHEN
    6.
    发明申请
    VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR DREIDIMENSIONALEN OPTISCHEN VERMESSUNG VON OBERFLÄCHEN 审中-公开
    DEVICE AND METHOD FOR表面三维光学测量

    公开(公告)号：WO2012095088A1

    公开(公告)日：2012-07-19

    申请号：PCT/DE2011/050045

    申请日：2011-10-11

    Applicant: INB VISION AG ,  LILIENBLUM, Tilo ,  SCHMIDT, Wolfram

    Inventor： LILIENBLUM, Tilo ,  SCHMIDT, Wolfram

    IPC: G01B11/25

    CPC classification number: G01B11/2545 ,  G01B11/25

    Abstract: Eine Vorrichtung zur dreidimensionalen optischen Vermessung von Oberflächen beliebiger Objekte (2) mittels Musterprojektionsverfahren, mit einem Projektor (3) zur Musterprojektion auf die Oberfläche (1) des Objekts (2), mindestens einer Kamera (5) oder bildgebenden Einheit zur Aufnahme des projizierten Musters und einem Computer zur Verarbeitung der über die Kamera oder bildgebende Einheit aufgenommenen Bildinformationen in 3D-Daten, ggf. zur dreidimensionalen Abbildung des Objekts (2), ist dadurch gekennzeichnet, dass der Projektor (3) ausschließlich schmalbandiges Licht aussendet und dass im Detektionsstrahlengang vor der Kamera (5) oder der bildgebenden Einheit eine Filtereinrichtung angeordnet ist, die ausschließlich für den Wellenlängenbereich des vom Projektor (3) ausgesandten Lichts durchlässig ist. Eine Verfahrensanwendung der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist entsprechend ausgelegt.

    Abstract translation: 通过使用投影图案投影法的装置，用于任何对象（2）的表面的三维光学测量的装置（3），用于投影到物体的表面（1）的图案（2），至少一个摄像机（5）或用于接收所述投影的图案在成像单元 和用于处理由照相机或成像单元中的图像信息转换为3D数据所捕获的，如有必要，所述对象（2）的三维成像，其特征在于，所述投影仪（3）仅发射窄带光并且该计算机中的正面的检测光束路径 相机（5）或成像单元，一个过滤器装置被布置成，排他地发送的对于该波长范围中的投影仪（3）是光可透过的。 根据本发明的装置的应用的方法被相应地设计。

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