公开(公告)号：WO2003021604A2

公开(公告)日：2003-03-13

申请号：PCT/DE2002/003058

申请日：2002-08-21

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG ,  CORDES, Eric ,  EGGERS, Georg, Erhard ,  LUEPKE, Jens ,  STOCKEN, Christian

Inventor： CORDES, Eric ,  EGGERS, Georg, Erhard ,  LUEPKE, Jens ,  STOCKEN, Christian

IPC: G11C29/00

CPC classification number: G11C29/50012 ,  G11C7/1051 ,  G11C7/1087 ,  G11C11/401 ,  G11C29/50

Abstract: Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Halbleiterspeichereinrichtungen. Die Erfindung betrifft ein Prüfverfahren für Halbleiterspeichereinrichtungen (P), die einen bidirektionalen Datenstrobe-Anschluss für ein Datenstrobe-Signal (DQS) aufweisen, an einer Prüfapparatur (PA), wobei die Prüfung des Datenstrobe-Signals durch einen Datentransfer zwischen der zu prüfenden Halbleiterspeichereinrichtung (P) und einer zweiten Halbleiterspeichereinrichtung gleichen Typs (R) erfolgt, sowie eine dafür geeignete Vorrichtung.

Abstract translation: 用于预热半导体存储器件的方法和设备。 本发明涉及一种镨导航用途fverfahren˚F导航用途ř半导体存储器设备（P），包括用于导航使用的双向数据选通信终端具有R数据选通信号（DQS），上形成PR导航用途fapparatur（PA），其特征在于，所述数据选通的镨导航使用蒸发 通过在待测试的半导体存储器件（P）和相同类型的第二半导体存储器件（R）之间的数据传输来执行信号，以及适合于它的器件。

公开(公告)号：WO03021604A3

公开(公告)日：2003-08-14

申请号：PCT/DE0203058

申请日：2002-08-21

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG ,  CORDES ERIC ,  EGGERS GEORG ERHARD ,  LUEPKE JENS ,  STOCKEN CHRISTIAN

Inventor： CORDES ERIC ,  EGGERS GEORG ERHARD ,  LUEPKE JENS ,  STOCKEN CHRISTIAN

IPC: G01R31/28 ,  G11C7/10 ,  G11C11/401 ,  G11C29/50 ,  G11C29/56 ,  G11C29/00

CPC classification number: G11C29/50012 ,  G11C7/1051 ,  G11C7/1087 ,  G11C11/401 ,  G11C29/50

Abstract: The invention relates to a test method for testing, on a testing device (PA), semiconductor devices (P) that have a bi-directional data strobe link for a data strobe signal (DQS) whereby the data strobe signal is tested by transferring data between the semiconductor memory device (P) to be tested and a second semiconductor memory device of the same type (R). The invention also relates to a device for carrying out the inventive method.

Abstract translation: 用于测试半导体存储器件的方法和装置。 本发明涉及一种用于半导体存储器件的测试方法（P），具有用于一个数据选通信号（DQS）的双向数据选通端，在一个测试装置（PA），数据选通信号的由（要被检查的半导体存储器件之间的数据传送的测试 P）和相同类型的（R）的第二半导体存储器设备中进行，以及用于其的装置。