Abstract:
Способ определения параметров объекта и устройство для его реализации (варианты) путем непосредственного измерения фазы переменной составляющей фототока с частотой Δf между частотными параметрами каждого из пары разнесенных по частоте и в пространстве и отраженных от поверхности исследуемого объекта (или прошедших сквозь него) сканирующих световых пучков и воссоздания изображения рельефа поверхности исследуемого объекта или построения его «карты рефракции» (распределение плотности), который относится к способам и средствам, использующим методы дифференциально-фазовой профилометрии/профилографии и оптической рефрактометрии и может быть использован практически во всех отраслях промышленности - в автомобильной, авиационной, авиакосмической, химической, электронной, оптической и медицинской промышленности, в машиностроении при изготовлении различных деталей, агрегатов и машин, высокоэффективных турбосистем, в приборостроении, особенно в производстве подшипников, а также для определения эксплуатационных параметров топливно-смазочных материалов, например, для экспресс-анализа с целью определения количества и размеров частиц в маслах, топливе и нефтепродуктах, в прозрачных веществах и биологических средах.