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公开(公告)号:WO2007077875A1
公开(公告)日:2007-07-12
申请号:PCT/JP2006/326063
申请日:2006-12-27
Inventor: 長坂 博之
IPC: H01L21/027 , G03F7/20
CPC classification number: G03F7/70283 , G03F1/70 , G03F7/70208 , G03F7/70275
Abstract: 露光装置EXは、露光光ELを射出する光源装置1と、光源装置1から射出された露光光ELを第1露光光EL1と第2露光光EL2とに分離する分離光学系13を有し、第1露光光EL1で第1パターンPA1を照明するとともに第2露光光EL2で第2パターンPA2を照明する照明系ILとを備え、第1パターンPA1からの第1露光光EL1と第2パターンPA2からの第2露光光EL2とを基板P上の所定領域に照射することによって、基板P上の所定領域を多重露光する。
Abstract translation: 曝光装置(EX)具有用于发射曝光光的光源装置(1),用于将曝光光(EL)分离为第一曝光光(EL1)和第二曝光光(EL2)的分离光学系统(13) )和第一曝光光(EL1)照亮第一图案(PA1)并且第二曝光光(EL2)照亮第二图案(PA2)的照明系统(IL)。 来自第一图案(PA1)的第一照明光(EL1)和来自第二图案(PA2)的第二照明光(EL2)被施加到基板(P)上的预定区域以乘以暴露预定区域。
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公开(公告)号:WO2007034838A1
公开(公告)日:2007-03-29
申请号:PCT/JP2006/318645
申请日:2006-09-20
Inventor: 長坂 博之
IPC: H01L21/027
CPC classification number: G03F7/70341
Abstract: 露光装置(EX)は、露光光(EL)が射出される凹面を有する光学素子(LS1)と、前記露光光(EL)の光路を囲むように設けられた面(20)とを備える。液浸領域(LR)の液体(LQ)の界面(LG)が、前記露光光(EL)が照射可能な位置に配置された物体(P)と前記面(20)との間に保持される。
Abstract translation: 曝光装置(EX)包括具有发射曝光(EL)的凹面的光学元件(LS1)和围绕曝光光(EL)的光路设置的平面(20)。 浸液区域(LR)的液体(LQ)的界面(LG)被保持在布置在可以施加曝光光(EL)的位置处的物体(P)和平面(20)之间。
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公开(公告)号:WO2006106832A1
公开(公告)日:2006-10-12
申请号:PCT/JP2006/306675
申请日:2006-03-30
IPC: H01L21/027 , G03F7/20
CPC classification number: G03F7/7055 , G03F7/70341 , G03F7/7085
Abstract: 基板(P)の表面に形成される液浸領域(LR)の状態を、基板(P)の移動条件及び液浸領域(LR)を形成するときの液浸条件の少なくとも一方を変えつつ検出し、その検出結果に基づいて露光条件を決定する。
Abstract translation: 在形成液浸区域(LR)时,基板(P)的移动条件或液浸条件的至少任一种,检测在基板(P)的表面上形成的液浸区域(LR)的状态。 根据检测结果确定曝光条件。
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4.露光装置及びその部材の洗浄方法、露光装置のメンテナンス方法、メンテナンス機器、並びにデバイス製造方法 审中-公开
Title translation: 曝光装置,曝光装置部件清洁方法,曝光装置维护方法,维护装置和装置制造方法公开(公告)号:WO2005124833A1
公开(公告)日:2005-12-29
申请号:PCT/JP2005/011305
申请日:2005-06-21
IPC: H01L21/027
CPC classification number: G03F7/70916 , G03F7/70341 , G03F7/7085 , G03F7/70925
Abstract: 露光装置EXSは、投影光学系PLの像面側に液体LQの液浸領域AR2を形成し、投影光学系PLと液浸領域AR2の液体LQとを介して基板Pを露光する。露光装置EXSが有する光洗浄装置80は、液浸領域AR2を形成するための液体LQに接触する基板ステージPSTの上面31などに光洗浄効果を有する所定の照射光Luを照射する。液浸領域の液体に接触する部材の汚染に起因する露光精度及び計測精度の劣化を防止できる。
Abstract translation: 曝光装置EXS在投影光学系统PL的像面侧形成液体LQ的浸渍区域AR2,经由投影光学系统PL和浸渍区域AR2的液体LQ进行基板P的曝光。 曝光装置EXS具有光学清洁装置(80),该光学清洁装置(80)将用于衬底载台PST的上表面(31)的具有光学清洁效果的预定照射光Lu施加到用于形成浸没区域AR2的液体LQ。 因此,可以防止由于与浸没区域中的液体接触的部件的污染而引起的曝光精度和测量精度的劣化。
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公开(公告)号:WO2005122221A1
公开(公告)日:2005-12-22
申请号:PCT/JP2005/010576
申请日:2005-06-09
Applicant: 株式会社ニコン , 株式会社 ニコンエンジニアリング , 長坂 博之 , 奥山 猛
IPC: H01L21/027
CPC classification number: G03F7/70883 , G03F7/70341 , G03F7/70833 , G03F7/7085
Abstract: 露光装置EXは、投影光学系PLと液体LQとを介して基板P上に露光光ELを照射して、基板Pを露光する。露光装置EXは液体LQを供給するとともに液体LQを回収する液浸機構1を備える。液浸機構1は、基板Pの表面と対向し且つ基板Pの表面に傾斜する斜面2を有し、液浸機構1の液体回収口22が、斜面2に形成されている。また、基板Pと投影光学系PLとの間に平坦部75を有する。液浸領域を小さく維持することができる。
Abstract translation: 曝光设备(EX)通过投影光学系统(PL)和液体(LQ)用曝光灯(EL)照射板(P)来暴露板(P)。 曝光设备(EX)设置有用于供应液体(LQ)并回收液体(LQ)的浸液机构(1)。 浸液机构(1)具有面向板(P)的前面并相对于基板(P)的前面倾斜的倾斜面(2),并且液体回收口 在倾斜平面(2)上形成浸液机构(1)。 平板部(75)设置在基板(P)和投影光学系统(PL)之间。 液浸区域可以保持较小。
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公开(公告)号:WO2005104195A1
公开(公告)日:2005-11-03
申请号:PCT/JP2005/007261
申请日:2005-04-14
IPC: H01L21/027
CPC classification number: G03F7/70341 , G03F7/2041
Abstract: 液浸領域を形成するための液体供給動作及び液体回収動作を良好に行い、液浸領域を所望状態に形成して、高い露光精度及び計測精度を得ることができる露光装置を提供する。露光装置EXは、液体(LQ)を介して露光光(EL)を基板(P)上に照射することによって、基板(P)を露光するものであって、基板(P)表面と略平行に液体(LQ)を供給可能な供給口(13)を有する液体供給機構(10)を備えている。
Abstract translation: 优选进行用于形成液浸区域的液体供给操作和液体回收操作以在期望条件下形成液浸区域的曝光装置,从而能够实现高曝光精度和测量精度。 曝光装置(EX)是通过液体(LQ)将衬底(P)上的曝光光(EL)曝光于衬底(P)的装置。 曝光装置具有液体供给机构(10),该液体供给机构(10)具有能够在与基板(P)的表面大致平行的方向上供给液体(LQ)的供给口(13)。
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公开(公告)号:WO2005069355A1
公开(公告)日:2005-07-28
申请号:PCT/JP2005/000228
申请日:2005-01-12
IPC: H01L21/027
CPC classification number: G03F7/70725 , G03F7/70775
Abstract: 投影光学系と基板との距離が近接している場合であっても、容易に投影光学系と基板或いは基板ステージとの衝突を回避することができる露光装置を提供する。マスク(R)に形成されたパターン(PA)を基板(W)上に投影して転写する投影光学系(30)と、投影光学系(30)の下方に配置され、基板(W)を支持しつつ投影光学系(30)の光軸(AX)方向に略直交する方向に移動する基板ステージ(42)とを有する露光装置EXにおいて、投影光学系(30)の外周に配置され、基板ステージ(42)或いは基板Wの光軸(AX)方向に沿った位置を検出する検出部(81)と、検出部(81)の検出結果に基づいて基板ステージ(42)の移動を停止或いは反転させる制御装置(70)とを備える。
Abstract translation: 即使投影光学系统和基板距离彼此靠近,也能够容易地避免投影光学系统与基板或基板台之间的碰撞的曝光装置。 曝光装置(EX)具有用于将形成在掩模(R)上的图案(PA)投影并传送到基板(W)的投影光学系统(30),并且具有放置在投影光学系统下方的基板台 (30)并且在基本上垂直于投影光学系统(30)的光轴(AX)的方向的方向上支撑基板(W)的同时移动。 曝光装置(EX)还具有设置在投影光学系统(30)的外周的检测部(81),并且检测基板台(42)沿着光轴(AX)的方向的位置, 或基板(W),并且具有用于基于检测部(81)的检测结果停止或反转基板台(42)的移动的控制装置(70)。
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公开(公告)号:WO2005055296A1
公开(公告)日:2005-06-16
申请号:PCT/JP2004/018435
申请日:2004-12-03
IPC: H01L21/027
CPC classification number: G03F7/7085 , G03F7/70341 , G03F7/707 , G03F7/7075
Abstract: 露光装置EXは、投影光学系PLと液体1とを介して基板P上に露光光ELを照射して、基板Pを露光するものであって、基板Pを保持するための基板テーブルPTを備え、基板テーブルPTに、撥液性の平坦面30Aを有するプレート部材30を交換可能に設けて、液体が残留することを防止し、良好な露光精度を維持できる。
Abstract translation: 曝光装置(EX)是通过投影光学系统(PL)和液体(1)将曝光光(EL)照射到基板(P)上而使基板(P)曝光的装置。 曝光装置(EX)具有用于保持基板(P)的基板台(PT)。 具有疏液平面(30A)的板构件(30)可更换地安装在基板台(PT)上,防止液体残留,保持良好的曝光精度。
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公开(公告)号:WO2004112108A1
公开(公告)日:2004-12-23
申请号:PCT/JP2004/008578
申请日:2004-06-11
Applicant: 株式会社ニコン , 大和 壮一 , 馬込 伸貴 , 蛭川 茂 , 工藤 芳彦 , 井上 次郎 , 河野 博高 , 根井 正洋 , 今井 基勝 , 長坂 博之 , 白石 健一 , 西井 康文 , 高岩 宏明
Inventor: 大和 壮一 , 馬込 伸貴 , 蛭川 茂 , 工藤 芳彦 , 井上 次郎 , 河野 博高 , 根井 正洋 , 今井 基勝 , 長坂 博之 , 白石 健一 , 西井 康文 , 高岩 宏明
IPC: H01L21/027
CPC classification number: G03F7/70341 , G03B27/58 , G03F7/2041 , G03F7/707 , G03F7/70716
Abstract: 投影光学系PLと液体1とを介してパターンの像を基板P上に投影することによって基板Pを露光する際、基板Pの側面PB、裏面PCを撥液処理する。このような構成により基板のエッジ領域を液浸露光する場合に良好に液浸領域を形成し、液体の基板ステージ外部への流出を抑えた状態で露光できる露光方法を提供する。
Abstract translation: 公开了一种曝光方法,其中当基板(P)的曝光通过将图案图像投影到基板(P)上进行曝光时,基板(P)的侧表面(PB)和背面(PC) 基板(P)通过投影光学系统(PL)和液体(1)。 因此,在基板的边缘部进行浸渍曝光的情况下,能够充分地形成浸渍区域并进行曝光,同时防止液体从基板台流出。
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公开(公告)号:WO2004053956A1
公开(公告)日:2004-06-24
申请号:PCT/JP2003/015735
申请日:2003-12-09
IPC: H01L21/027
CPC classification number: G03F7/70341 , G03F7/2041 , G03F7/709
Abstract: 露光装置は、投影光学系PLと基板Pとの間の少なくとも一部を液体50で満たすとともに、投影光学系PLを介してパターンの像を基板P上に投影して、基板Pを露光する。基板Pを移動するときに液体50と接触する部分である光学素子60及び鏡筒PKには、液体50との親和性を調整する表面処理が施されている。投影光学系と基板の間の液体に気泡が生ずることが防止され、また、投影光学系と基板の間に液体が常に維持されるので、良好な液浸状態が形成される。
Abstract translation: 在曝光装置中,通过用液体(50)填充投影光学系统(PL)和基板(P)之间的至少一部分空间来进行基板(P)的曝光,并投影图像 通过投影光学系统(PL)到衬底(P)上的图案。 在移动基板(P)时与液体(50)接触的光学元件(60)和透镜镜筒(PK)进行表面处理以调节与液体(50)的亲和性, 。 因此,抑制投影光学系统和基板之间的液体中的气泡的形成,并且液体始终保持在投影光学系统和基板之间,从而形成良好的浸没状态。
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