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公开(公告)号：WO2023029978A1
公开(公告)日：2023-03-09
申请号：PCT/CN2022/112654
申请日：2022-08-16
Applicant: 董仕
Inventor： 董仕 DONG, Shi
IPC: G01B9/02
Abstract: 基于波阵面分割、参考光束和测量光束的光路传播路径为单程、并以正交合束的方式构成的干涉仪装置，可用于测量物质的各向异性参数、测距、测速、位移、倾角、运动状态、流速等物理参量的精密测量。基于干涉为基础测量手段，通过叠加空间正交的两相干光信号、再由光电传感器测得的叠加场强信号导出两信号相位差的一种检测手段；并利用被测目标的空间特征向量与有效光束垂直和平行时的观测相位差，去逆向求取被测目标各向异性特征物理量的一种方法。具有两种基本类型的设计模式，一种是基于信号延时器和光路转折器（12）构成的2D平面结构光路构成，另一种是基于双光路转折器（21，22）构成的3D立体结构光路构成，两种设计具有相同的功能。
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