公开(公告)号：WO2017010937A1

公开(公告)日：2017-01-19

申请号：PCT/SG2016/050313

申请日：2016-07-07

申请人： AEM SINGAPORE PTE. LTD.

发明人： HOW, Boon Hua ,  ONG, Kok Keong ,  SAW, Chiang Huan ,  CHAN, See Jean ,  LO, Wee Tick

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/003 ,  G01R31/2849 ,  G01R31/2868 ,  G01R31/2874

摘要： A configurable electronic test system that is adapted for varying test processes and thermal conditions, consisting of a device handler working with multiple testers and a thermal environment module for controlling the thermal condition during test. The test system can be easily expanded by stacking more testers vertically for more test capacity without requiring an increase in floor space.

摘要翻译： 一种可配置的电子测试系统，适用于变化的测试过程和热条件，包括与多个测试仪一起工作的设备处理器和用于控制测试期间热条件的热环境模块。 通过垂直堆叠更多的测试人员可以轻松扩展测试系统，以获得更多的测试能力，而不需要增加占地面积。