公开(公告)号：WO2017095622A1

公开(公告)日：2017-06-08

申请号：PCT/US2016/062007

申请日：2016-11-15

申请人： BATTELLE ENERGY ALLIANCE, LLC

发明人： SAZHIN, Sergiy Victorovich ,  DUFEK, Eric J. ,  GERING, Kevin L.

IPC分类号： G01R31/02 ,  G01R19/12 ,  G01R19/165 ,  G01R31/36 ,  H01M10/44 ,  H01M10/48

CPC分类号： G01R31/3606 ,  G01R31/003 ,  G01R31/025 ,  G01R31/3648 ,  G01R31/3658 ,  H01M10/42 ,  H01M10/425

摘要： Systems and methods for determining self discharge currents in an energy storage cell and detecting internal shorts are disclosed. A system includes a DC voltage source configured to provide a constant test voltage selected to be less than an open circuit voltage of an energy storage cell to the energy storage cell. The system also includes a current measuring device operably coupled between the DC voltage source and the energy storage cell, and control circuitry operably coupled to the current measuring device. A method includes applying the constant test voltage, and measuring the test current flowing between the DC voltage source and the energy storage cell until after the test current switches from a negative current to a positive current. The method also includes determining a self discharge current of the energy storage cell by analyzing the measured test current with computational models that capture physical processes tied to the test methods.

摘要翻译： 公开了用于确定能量存储单元中的自放电电流并检测内部短路的系统和方法。 一种系统包括DC电压源，该DC电压源被配置为提供恒定的测试电压，该恒定的测试电压被选择为小于能量存储单元的能量存储单元的开路电压。 该系统还包括可操作地耦合在DC电压源和能量存储单元之间的电流测量设备以及可操作地耦合到电流测量设备的控制电路。 一种方法包括施加恒定的测试电压，并且测量直流电压源和能量存储单元之间流过的测试电流，直到测试电流从负电流切换到正电流之后。 该方法还包括通过利用捕获与测试方法相关联的物理过程的计算模型分析测量的测试电流来确定能量存储单元的自放电电流。

公开(公告)号：WO2013028634A2

公开(公告)日：2013-02-28

申请号：PCT/US2012/051616

申请日：2012-08-20

申请人： TELEPLAN INTERNATIONAL NV ,  ALBERT, Glenn, D.

发明人： ALBERT, Glenn, D.

IPC分类号： G01R1/00

CPC分类号： G01R31/003

摘要： A thermal wrap for testing electronic components has a web having an inside and an outside surface and a first end and a second end and a thermal element incorporated in said web. An edge element incorporated substantially along at least one edge of said web promotes a thermal seal between said web and the electronic component being tested when the electronic component in installed in the wrap. A closure disposed on the ends may be reversibly closed sufficiently tightly to promote the thermal seal.

摘要翻译： 用于测试电子部件的热包装具有带有内表面和外表面的网，并且第一端和第二端以及并入所述网中的热元件。 基本上沿着所述网的至少一个边缘并入的边缘元件在安装在包装中的电子部件时促进所述卷材和正被测试的电子部件之间的热密封。 设置在端部上的封闭件可以被充分紧密地可逆地封闭以促进热封。

公开(公告)号：WO2017211048A1

公开(公告)日：2017-12-14

申请号：PCT/CN2016/105924

申请日：2016-11-15

申请人： 东莞市冠佳电子设备有限公司

发明人： 邹曙 ,  郑罡

IPC分类号： G01R31/40

CPC分类号： G01R31/40 ,  G01R31/003 ,  H02J1/102 ,  H02J9/062 ,  H02M3/33584 ,  H02M7/10 ,  H02M7/797 ,  H02M2001/007

摘要： 开关电源老化测试电路，其包括AC/DC双向变换器、DC/DC负载和第一接线端，AC/DC双向变换器交流端连接市电电网，直流端连接第一接线端，DC/DC负载输出端连接第一接线端，被测电源为DC/DC开关电源时，被测DC/DC开关电源输入端连接第一接线端，输出端连接DC/DC负载的输入端；被测电源为AC/DC开关电源时，被测AC/DC开关电源输入端连接市电，输出端连接DC/DC负载的输入端。AC/DC双向变换器既可将交流电整流为直流电，又可将直流电逆变为交流电，实现电能的双向流通，简化了电路结构，且能测试DC/DC电源和AC/DC电源，减少了对电能的浪费。

公开(公告)号：WO2017010937A1

公开(公告)日：2017-01-19

申请号：PCT/SG2016/050313

申请日：2016-07-07

申请人： AEM SINGAPORE PTE. LTD.

发明人： HOW, Boon Hua ,  ONG, Kok Keong ,  SAW, Chiang Huan ,  CHAN, See Jean ,  LO, Wee Tick

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/003 ,  G01R31/2849 ,  G01R31/2868 ,  G01R31/2874

摘要： A configurable electronic test system that is adapted for varying test processes and thermal conditions, consisting of a device handler working with multiple testers and a thermal environment module for controlling the thermal condition during test. The test system can be easily expanded by stacking more testers vertically for more test capacity without requiring an increase in floor space.

摘要翻译： 一种可配置的电子测试系统，适用于变化的测试过程和热条件，包括与多个测试仪一起工作的设备处理器和用于控制测试期间热条件的热环境模块。 通过垂直堆叠更多的测试人员可以轻松扩展测试系统，以获得更多的测试能力，而不需要增加占地面积。

公开(公告)号：WO2016033601A1

公开(公告)日：2016-03-03

申请号：PCT/US2015/047793

申请日：2015-08-31

申请人： TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED ,  TEXAS INSTRUMENTS JAPAN LIMITED

发明人： JIANG, Ping ,  MARSHALL, Andrew

IPC分类号： G01R27/26

CPC分类号： G01R31/028 ,  G01R27/2605 ,  G01R31/003

摘要： In described examples of a method of evaluating at least one parameter of a first capacitor, the method couples at least three capacitors (C 1 , C 2 , C 3 ) in a capacitor network to a common node. First (200), the method applies a first voltage range to the capacitor network for causing a first voltage drop across the first capacitor, and it evaluates the at least one parameter in response to the first voltage range. Second (300), the method applies a second voltage range to the capacitor network for causing a second voltage drop across the first capacitor, the second voltage drop being greater than the first voltage drop, and it evaluates the at least one parameter in response to the second voltage range.

摘要翻译： 在评估第一电容器的至少一个参数的方法的所述示例中，该方法将电容器网络中的至少三个电容器（C1，C2，C3）耦合到公共节点。 首先（200），该方法将第一电压范围应用于电容器网络，以引起跨越第一电容器的第一电压降，并且响应于第一电压范围评估该至少一个参数。 第二（300）中，该方法对电容器网络施加第二电压范围，以在第一电容器两端产生第二电压降，第二电压降大于第一电压降，并且响应于第二电压范围评估至少一个参数 第二电压范围。

公开(公告)号：WO2015017747A1

公开(公告)日：2015-02-05

申请号：PCT/US2014/049339

申请日：2014-08-01

申请人： GENERAL EQUIPMENT AND MANUFACTURING COMPANY INC., D/B/A TOPWORX, INC.

发明人： PENNING, Bruce, R. ,  RIGSBY, Bruce

IPC分类号： G05B23/02

CPC分类号： G08B21/18 ,  G01R31/003 ,  G05B23/0283

摘要： In a method for estimating a remaining lifetime of a solenoid coil of a valve controller operating in a process control system, a record of a duration of activation of the solenoid coil is maintained during operation of the solenoid coil. An operating temperature of the solenoid coil is determined. An estimate of the remaining lifetime of the solenoid coil is generated based on the duration of activation of the solenoid coil and the operating temperature of the solenoid coil.

摘要翻译： 在用于估计在过程控制系统中操作的阀控制器的螺线管线圈的剩余寿命的方法中，在螺线管线圈的操作期间维持螺线管线圈的激活持续时间的记录。 确定螺线管线圈的工作温度。 基于螺线管线圈的激活持续时间和螺线管线圈的工作温度，产生螺线管线圈的剩余寿命的估计值。

公开(公告)号：WO2015073584A1

公开(公告)日：2015-05-21

申请号：PCT/US2014/065298

申请日：2014-11-12

申请人： PENTAIR THERMAL MANAGEMENT LLC

发明人： ZACH, Juergen, J. ,  BERES, James, F. ,  OLSON, Erik

IPC分类号： H02H3/00

CPC分类号： G01N27/00 ,  G01N25/00 ,  G01R31/003 ,  G01R31/021 ,  G01R31/1272

摘要： Embodiments of the invention provide systems and methods for tracking the thermal age of a self-regulating heating cable. Over a time period, current and voltage data for a cable signal are collected, from which spectral information is extracted. The spectral information has a frequency component and an amplitude component. The cable signal is processed to extract a line frequency signature that includes the electrical system's line current frequency and at least some of its harmonics. A ratio of the amplitudes of at least two of the odd harmonics of the line current frequency is calculated. The ratio is compared to an aging curve indicating the thermal age of the cable as a function of the odd-harmonic ratios. The curve may be obtained in a laboratory setting or in the field by characterizing a cable with zero hours of use. The characterizing may include aging the cable to determine the curve.

摘要翻译： 本发明的实施例提供了用于跟踪自调节加热电缆的热寿命的系统和方法。 在一段时间内，收集电缆信号的电流和电压数据，从中提取光谱信息。 频谱信息具有频率分量和振幅分量。 处理电缆信号以提取包括电气系统的线路电流频率和其至少一些谐波的线路频率特征。 计算线路电流频率的至少两个奇次谐波的振幅比。 将该比率与表示电缆的热寿命作为奇次谐波比的函数的老化曲线进行比较。 曲线可以在实验室设置中或在现场通过使用零小时的电缆进行表征来获得。 特征可能包括老化电缆以确定曲线。

公开(公告)号：WO2013028634A3

公开(公告)日：2014-05-08

申请号：PCT/US2012051616

申请日：2012-08-20

申请人： TELEPLAN INTERNAT NV ,  ALBERT GLENN D

发明人： ALBERT GLENN D

IPC分类号： G01K1/14

CPC分类号： G01R31/003

摘要： A thermal wrap for testing electronic components has a web having an inside and an outside surface and a first end and a second end and a thermal element incorporated in said web. An edge element incorporated substantially along at least one edge of said web promotes a thermal seal between said web and the electronic component being tested when the electronic component in installed in the wrap. A closure disposed on the ends may be reversibly closed sufficiently tightly to promote the thermal seal.

摘要翻译： 用于测试电子部件的热包装具有带有内表面和外表面的网，并且第一端和第二端以及并入所述网中的热元件。 基本上沿着所述网的至少一个边缘并入的边缘元件在安装在包装中的电子部件时促进所述卷材和正被测试的电子部件之间的热密封。 设置在端部上的封闭件可以被充分紧密地可逆地封闭以促进热封。

公开(公告)号：WO2013176127A1

公开(公告)日：2013-11-28

申请号：PCT/JP2013/064076

申请日：2013-05-21

申请人： 株式会社アドバンテスト

发明人： 中村　陽登 ,  藤崎　貴志 ,  市川　弘毅

IPC分类号： G01R31/26 ,  H01R31/06 ,  H01R33/76

CPC分类号： G01R1/0408 ,  G01R31/003 ,  G01R31/2863 ,  G01R31/2867

摘要： 試験用キャリア１０は、ダイ９０を保持するベースフィルム４０と、ベースフィルム４０に重ねられてダイ９０を覆うカバーフィルム７０と、を備え、カバーフィルム７０は、自己粘着性を有すると共にベースフィルム４０よりも柔軟であり、ベースフィルム４０は貫通孔４６を有し、当該貫通孔４６は、ベースフィルム４０においてダイ９０と接触する領域４０１の近傍に形成されている。

摘要翻译： 一种测试载体（10），包括：保持模具（90）的基膜（40）; 以及覆盖在基膜（40）上并覆盖模具（90）的覆盖膜（70）。 覆盖膜（70）具有自粘性，比基膜（40）更柔软。 基膜（40）具有通孔（46），并且所述通孔（46）形成在与基膜（40）中的模具（90）接触的区域（401）附近。

公开(公告)号：WO2006116767A1

公开(公告)日：2006-11-02

申请号：PCT/US2006/016659

申请日：2006-04-27

申请人： AEHR TEST SYSTEMS ,  RICHMOND, Donald, P., II ,  DEBOE, Kenneth, W. ,  UHER, Frank, O. ,  JOVANOVIC, Jovan ,  LINDSEY, Scott, E ,  MAENNER, Thomas, T. ,  SHEPHERD, Patrick, M. ,  TYSON, Jeffrey, L. ,  CARBONE, Mark, C. ,  BURKE, Paul, W. ,  CAO, Doan, D. ,  TOMIC, James, F. ,  VU, Long, V.

发明人： RICHMOND, Donald, P., II ,  DEBOE, Kenneth, W. ,  UHER, Frank, O. ,  JOVANOVIC, Jovan ,  LINDSEY, Scott, E ,  MAENNER, Thomas, T. ,  SHEPHERD, Patrick, M. ,  TYSON, Jeffrey, L. ,  CARBONE, Mark, C. ,  BURKE, Paul, W. ,  CAO, Doan, D. ,  TOMIC, James, F. ,  VU, Long, V.

IPC分类号： G01R31/28 ,  G01R1/073

CPC分类号： G01R31/287 ,  G01R31/003 ,  G01R31/26 ,  G01R31/2642 ,  G01R31/2851 ,  G01R31/2855 ,  G01R31/2863 ,  G01R31/2868 ,  G01R31/2872 ,  G01R31/2877 ,  G01R31/2886 ,  G01R31/2889 ,  G01R31/2891 ,  G01R31/31924 ,  G06F8/30

摘要： An apparatus is described for burn-in and/or functional testing of microelectronic circuits of unsingulated wafers. A large number of power, ground, and signal connections can be made to a large number of contacts on a wafer. The apparatus has a cartridge that allows for fanning-in of electric paths. A distribution board has a plurality of interfaces that are strategically positioned to provide a dense configuration. The interfaces are connected through flexible attachments to an array of first connector modules. Each one of the first connector modules can be independently connected to a respective one of a plurality of second connector modules, thereby reducing stresses on a frame of the apparatus. Further features include for example a piston that allows for tight control of forces exerted by terminals onto contacts of a wafer.

摘要翻译： 描述了一种用于老化和/或功能测试未调制晶片的微电子电路的装置。 可以对晶片上的大量触点进行大量的电源，接地和信号连接。 该装置具有允许电通路进入的盒。 分配板具有多个接口，其被策略地定位以提供致密配置。 接口通过柔性附件连接到第一连接器模块阵列。 第一连接器模块中的每一个可以独立地连接到多个第二连接器模块中的相应的一个，从而减少装置的框架上的应力。 其他特征包括例如允许对端子施加到晶片的触点上的力的严格控制的活塞。