公开(公告)号：WO2006052934A3

公开(公告)日：2006-07-27

申请号：PCT/US2005040369

申请日：2005-11-07

Applicant: DATA IO CORP ,  BEECHER DAVID

Inventor： BEECHER DAVID

IPC: G06F19/00

CPC classification number: G01R31/2806 ,  G01R31/2843

Abstract: A manufacturing test and programming system (100) is presented including providing a PCB tester (108), providing an in-system programmer (102) electrically attached to the PCB tester (108), mounting a device under test (114) having a programmable device (116) attached thereon and programming the programmable device (116) with the in-system programmer (102).

Abstract translation: 提供制造测试和编程系统（100），包括提供PCB测试器（108），提供电连接到PCB测试器（108）的系统内编程器（102），安装被测器件（114），其具有可编程 设备（116），并且用可编程器件（116）与系统内编程器（102）进行编程。