公开(公告)号：WO2011140563A1

公开(公告)日：2011-11-10

申请号：PCT/US2011/035791

申请日：2011-05-09

Applicant: QUALCOMM INCORPORATED ,  BANERJEE, Gaurab ,  BEHERA, Manas

Inventor： BANERJEE, Gaurab ,  BEHERA, Manas

IPC: G01R31/3167 ,  G01R31/28 ,  H03M1/10

CPC classification number: G01R31/3167 ,  G01R31/2843

Abstract: An integrated circuit with Built-in Self Test (BiST) is described. The integrated circuit includes a signal generator used to perform a BiST on the integrated circuit. The integrated circuit also includes a local oscillator used by the signal generator to generate one or more test signals used to perform the BiST on the integrated circuit.

Abstract translation: 描述了具有内置自检（BiST）的集成电路。 集成电路包括用于在集成电路上执行BiST的信号发生器。 集成电路还包括由信号发生器使用的本地振荡器，以产生用于在集成电路上执行BiST的一个或多个测试信号。

公开(公告)号：WO2016053720A1

公开(公告)日：2016-04-07

申请号：PCT/US2015/051788

申请日：2015-09-23

Applicant: XILINX, INC.

Inventor： YEH, Ping-Chin ,  JENNINGS, John, K. ,  NATHANAEL, Rhesa ,  CHONG, Nui ,  CHANG, Cheng-Whang ,  CHUNG, Daniel, Y.

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/3167

CPC classification number: G01R31/2851 ,  G01R31/2837 ,  G01R31/2843 ,  G01R31/3167

Abstract: In an example implementation, an integrated circuit (IC) (102) includes: a plurality of transistors (122) disposed in a plurality of locations (120) on a die of the IC; conductors (124) coupled to terminals of each of the plurality of transistors; a digital-to-analog converter (DAC) (108), coupled to the conductors, to drive voltage signals to the plurality of transistors in response to a digital input; and an analog-to-digital converter (ADC) (110), coupled to at least a portion of the conductors, to generate samples in response to current signals induced in the plurality of transistors in response to the voltage signals, the samples being indicative of at least one electrostatic characteristic for the plurality of transistors.

Abstract translation: 在示例实现中，集成电路（IC）（102）包括：设置在IC的管芯上的多个位置（120）中的多个晶体管（122） 耦合到所述多个晶体管中的每一个的端子的导体（124）; 耦合到所述导体的数模转换器（DAC）（108），以响应于数字输入来驱动到所述多个晶体管的电压信号; 以及耦合到所述导体的至少一部分的模数转换器（110），以响应于所述电压信号响应于在所述多个晶体管中感应的电流信号而生成样本，所述样本是指示性的 对于多个晶体管具有至少一个静电特性。

公开(公告)号：WO2014062483A1

公开(公告)日：2014-04-24

申请号：PCT/US2013/064440

申请日：2013-10-11

Applicant: THE UNIVERSITY OF UTAH RESEARCH FOUNDATION

Inventor： KHAN, Faisal ,  NASRIN, Most, S. ,  ALAM, Mohammed, Khorshed

IPC: G01R31/3183 ,  G01R31/3181 ,  G01R31/40

CPC classification number: G01R31/40 ,  G01R31/007 ,  G01R31/06 ,  G01R31/2608 ,  G01R31/2621 ,  G01R31/2839 ,  G01R31/2843 ,  G01R31/327 ,  H02S50/10

Abstract: Systems, methods and devices which utilize Spread Spectrum Time Domain Reflectometry (SSTDR) techniques to measure degradation of electronic components are provided. Such measurements may be implemented while the components "live" or otherwise functioning within an overall system. In one embodiment, monitoring a power converter in a high power system is accomplished. In this embodiment, degradation of components within the power converter (e.g. metal-oxide-semiconductor field-effect transistors (MOSFETs), capacitors, insulated-gate bipolar transistors (IGBTs), and the like) may be monitored by processing data from reflections of an SSTDR signal to determine changes in impedance, capacitance, or any other changes that may be characteristic of components degrading. For example, an aging MOSFET may experience an increase of drain to source resistance which adds additional resistance to a current path within a power converter. Such a change is able to be analyzed monitored upon processing the reflected test signals.

Abstract translation: 提供了利用扩展时域反射计（SSTDR）技术测量电子元件退化的系统，方法和设备。 这些测量可以在组件“活”或在整个系统内以其他方式运行的情况下实现。 在一个实施例中，实现了监控大功率系统中的功率转换器。 在本实施例中，可以通过处理来自反射的数据来监视功率转换器内的部件（例如金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET），电容器，绝缘栅双极晶体管（IGBT）等）的劣化 一个SSTDR信号，用于确定阻抗，电容或任何其他可能成分劣化的特征的变化。 例如，老化的MOSFET可能会遇到漏极到源极电阻的增加，这增加了功率转换器内的电流路径的附加电阻。 在处理反射的测试信号时，能够对这种变化进行分析。

公开(公告)号：WO2006052934A2

公开(公告)日：2006-05-18

申请号：PCT/US2005/040369

申请日：2005-11-07

Applicant: DATA I/O CORPORATION ,  BEECHER, David

Inventor： BEECHER, David

IPC: G01R27/28

CPC classification number: G01R31/2806 ,  G01R31/2843

Abstract: A manufacturing test and programming system (100) is presented including providing a PCB tester (108), providing an in-system programmer (102) electrically attached to the PCB tester (108), mounting a device under test (114) having a programmable device (116) attached thereon and programming the programmable device (116) with the in-system programmer (102).

Abstract translation: 提供制造测试和编程系统（100），包括提供PCB测试器（108），提供电连接到PCB测试器（108）的系统内编程器（102），将设备 （114）具有附接在其上的可编程装置（116）并且用系统内编程器（102）对可编程装置（116）进行编程。

公开(公告)号：WO03052429A9

公开(公告)日：2004-03-25

申请号：PCT/US0240424

申请日：2002-12-17

Applicant: SIGNUS INC

Inventor： DAVIS LARRY J ,  COX KENNETH M

IPC: G01R27/02 ,  G01R27/16 ,  G01R31/27 ,  G01R31/28 ,  G01R27/08

CPC classification number: G01R27/02 ,  G01R1/06761 ,  G01R1/06788 ,  G01R27/16 ,  G01R31/27 ,  G01R31/2813 ,  G01R31/2843

Abstract: A device (10) for measuring an impedance (Z2) between first and second nodes (22, 24) in an electrical circuit (18) without removing components includes at least one current source (62 and/or 66) to provide first and second currents or current signals (i0, i1) of known values. First and second probes (30, 34) contact the respective first and second nodes to apply the first and second currents. A third common probe (46) contacts the circuit at a common node (50) that experiences the same current flow as between the first and second nodes. At least one voltage meter (70 and/or 74) measures voltages (V00, V01, V11 and V10) corresponding to the first and second currents. A processor (100) calculates the impedance based on the known values of the currents, and the measured values of the voltages.

Abstract translation: 用于测量电路（18）中的电路（18）中的第一和第二节点（22,24）之间的阻抗（Z2）而不去除部件的装置（10）包括至少一个电流源（62和/或66）以提供第一和第二 已知值的电流或电流信号（i0，i1）。 第一和第二探针（30,34）接触相应的第一和第二节点以施加第一和第二电流。 第三公共探针（46）在经历与第一和第二节点之间相同的电流的公共节点（50）处接触电路。 至少一个电压表（70和/或74）测量对应于第一和第二电流的电压（V00，V01，V11和V10）。 处理器（100）基于电流的已知值和电压的测量值来计算阻抗。

公开(公告)号：WO2013051204A1

公开(公告)日：2013-04-11

申请号：PCT/JP2012/005945

申请日：2012-09-19

Applicant: パナソニック株式会社

Inventor： 水谷　研治 ,  大塚　信之

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/282 ,  G01R31/2806 ,  G01R31/2843 ,  G01R31/2848

Abstract: 　基板に実装された電子回路の測定者による動作確認を支援する動作確認支援装置（１００）であって、基板に測定者がプローブを接触させることにより測定された、電圧または電流の信号波形である観測波形を取得する波形取得部（１０７）と、波形取得部（１０７）が取得した観測波形と、電子回路の動きをシミュレートすることにより得られる電子回路上の複数のノードにおける電圧または電流の信号波形である複数のシミュレーション信号波形の各々との類似度を算出する類似度算出部（１０８）と、複数のシミュレーション信号波形の各々に対応する電子回路上のノードの位置を示すノード情報に基づいて、類似度算出部（１０８）が算出した類似度が最大となるシミュレーション信号波形に対応する電子回路上のノードの位置を特定する位置特定部（１１１）と、位置特定部（１１１）が特定した電子回路上のノードの位置を測定者に通知する通知部（１１０）とを備える。

Abstract translation: 一种辅助操作验证的装置（100），其辅助由安装在基板上的电子电路的测量器执行的操作验证，其中提供有：波形获取单元（107），用于获取作为信号波形的观测波形 通过使探针与基板接触的测量器来测量电压或电流; 用于计算由波形获取单元（107）获取的观察波形与作为电压的信号波形的多个模拟信号波形之间的相似程度的相似度计算单元（108），或 通过模拟电子电路的运动而获得的电子电路中的多个节点中的电流; 位置指定单元（111），用于指定对应于由相似度计算单元（108）计算的相似程度最大的模拟信号波形的电子电路上的节点的位置， 指示对应于所述多个模拟信号波中的每一个的电子电路上的节点的位置的节点信息的基础; 以及通知单元（110），用于向测量者通知由位置指定单元（111）指定的电子电路上的节点的位置。

公开(公告)号：WO2003052429A2

公开(公告)日：2003-06-26

申请号：PCT/US2002/040424

申请日：2002-12-17

Applicant: SIGNUS, INC.

Inventor： DAVIS, Larry, J. ,  COX, Kenneth, M.

IPC: G01R

CPC classification number: G01R27/02 ,  G01R1/06761 ,  G01R1/06788 ,  G01R27/16 ,  G01R31/27 ,  G01R31/2813 ,  G01R31/2843

Abstract: A device (10) for measuring an impedance (Z 2 ) between first and second nodes (22, 24) in an electrical circuit (18) without removing components includes at least one current source (62 and/or 66) to provide first and second currents or current signals (i 0 , i 1 ) of known values. First and second probes (30, 34) contact the respective first and second nodes to apply the first and second currents. A third common probe (46) contacts the circuit at a common node (50) that experiences the same current flow as between the first and second nodes. At least one voltage meter (70 and/or 74) measures voltages (V 00 , V 01 , V 11 and V 10 ) corresponding to the first and second currents. A processor (100) calculates the impedance based on the known values of the currents, and the measured values of the voltages.

Abstract translation: 用于测量电路（18）中的电路（18）中的第一和第二节点（22,24）之间的阻抗（Z> 2 <）而不去除部件的装置（10）包括至少一个电流源（62和/或66） 已知值的第一和第二电流或电流信号（i> 0，i> 1）。 第一和第二探针（30,34）接触相应的第一和第二节点以施加第一和第二电流。 第三公共探针（46）在经历与第一和第二节点之间相同的电流的公共节点（50）处接触电路。 至少一个电压表（70和/或74）测量对应于第一和第二电流的电压（V> 00 <，V> 01 <，V> 11 <和V> 10 <）。 处理器（100）基于电流的已知值和电压的测量值来计算阻抗。

公开(公告)号：WO01090764A1

公开(公告)日：2001-11-29

申请号：PCT/US2001/016618

申请日：2001-05-21

IPC: G01R27/02 ,  G01R31/27 ,  G01R31/28 ,  G01R27/08

CPC classification number: G01R31/27 ,  G01R1/06761 ,  G01R1/06788 ,  G01R27/02 ,  G01R31/2813 ,  G01R31/2843

Abstract: A device (10) for measuring an impedance (Z2) of a discrete component (14) coupled in an electrical circuit (18) at first and second nodes (22, 24) includes at least one current source (62 and/or 66) to provide first and second currents or current signals (i0, i1) of known values. First and second probes (30, 34) contact the respective first and second nodes to apply the first and second currents. A third common probe (46) contacts the circuit at a common location (50) different from the first and second nodes. At least one voltage meter (70 and/or 74) measures voltages (V00, V01, V11 and V10) corresponding to the first and second currents. A signal processor (100) may separate the voltages from each other.

Abstract translation: 用于测量耦合在第一和第二节点（22,24）处的电路（18）中的分立组件（14）的阻抗（Z2）的装置（10）包括至少一个电流源（62和/或66） 以提供已知值的第一和第二电流或电流信号（i0，i1）。 第一和第二探针（30,34）接触相应的第一和第二节点以施加第一和第二电流。 第三公共探针（46）在与第一和第二节点不同的公共位置（50）处接触电路。 至少一个电压表（70和/或74）测量对应于第一和第二电流的电压（V00，V01，V11和V10）。 信号处理器（100）可以彼此分离电压。

公开(公告)号：WO2012044737A2

公开(公告)日：2012-04-05

申请号：PCT/US2011053834

申请日：2011-09-29

Applicant: SCHNEIDER ELECTRIC USA INC ,  TUCKEY DAVID T ,  LUPIN JEAN-MARC

Inventor： TUCKEY DAVID T ,  LUPIN JEAN-MARC

IPC: G06F19/00

CPC classification number: G01R31/2843 ,  G01R19/2513 ,  G01R31/028 ,  G06F15/00

Abstract: Systems, methods, and devices for monitoring one or more capacitor banks are presented herein. One concept of the present disclosure is directed to a method of monitoring at least one capacitor bank having a plurality of steps. The method includes: receiving measurements indicative of voltages and/or currents on electrical lines coupled to the steps of the capacitor bank by corresponding contactors; receiving information indicative of the respective statuses of the contactors; timestamping the measurements and contactor status information; storing the timestamped measurements with corresponding timestamped contactor status information; determining a rate of change of a parameter indicative of or derived from at least the measurements associated with at least one of the steps in the capacitor bank; comparing the determined rate of change with a baseline rate of change to produce a deviation; determining if the deviation satisfies a criterion; and, if so, indicating the deviation satisfied the criterion.

Abstract translation: 这里给出了用于监测一个或多个电容器组的系统，方法和设备。 本公开的一个构思针对监视具有多个步骤的至少一个电容器组的方法。 该方法包括：通过对应的接触器接收指示耦合到电容器组的步骤的电线上的电压和/或电流的测量值; 接收指示接触器的相应状态的信息; 对测量和接触器状态信息进行时间戳记; 将时间戳测量值与对应的时间戳接触器状态信息进行存储; 确定指示或从至少与电容器组中的至少一个步骤相关的测量结果导出的参数的变化率; 将确定的变化率与基线变化率进行比较以产生偏差; 确定偏差是否满足标准; 如果是，则表明偏差满足标准。

公开(公告)号：WO2006052934A3

公开(公告)日：2006-07-27

申请号：PCT/US2005040369

申请日：2005-11-07

Applicant: DATA IO CORP ,  BEECHER DAVID

Inventor： BEECHER DAVID

IPC: G06F19/00

CPC classification number: G01R31/2806 ,  G01R31/2843

Abstract: A manufacturing test and programming system (100) is presented including providing a PCB tester (108), providing an in-system programmer (102) electrically attached to the PCB tester (108), mounting a device under test (114) having a programmable device (116) attached thereon and programming the programmable device (116) with the in-system programmer (102).

Abstract translation: 提供制造测试和编程系统（100），包括提供PCB测试器（108），提供电连接到PCB测试器（108）的系统内编程器（102），安装被测器件（114），其具有可编程 设备（116），并且用可编程器件（116）与系统内编程器（102）进行编程。