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发明公开
CN101030539A 制作半导体元件的方法 有权

制作半导体元件的方法
摘要：
本发明是有关于一种制作半导体元件的方法，包含形成第一牺牲层于欲蚀刻的第一层上，其中第一牺牲层具有复数个贯穿第一牺牲层的孔洞，且每一孔洞使第一层对应孔洞的部分曝露于外；形成第一光阻层于第一牺牲层上，且第一光阻层填充贯穿第一牺牲层的孔洞；形成复数个开口于该第一光阻层上，每一开口叠于孔洞上，其中每一孔洞的截面积小于每一开口的截面积；以及藉由第一牺牲层上的孔洞与第一光阻层上的开口蚀刻第一层，更包含暴露第一层于蚀刻溶剂中。本发明制作半导体元件的方法可以降低孔洞间距的比例，进而能够增加所形成孔洞的密度。
摘要（英）：

A method of making a semiconductor device including forming a first sacrificial layer over a first layer to be etched, the first sacrificial layer having a plurality of openings formed therethrough exposing a portion of the first layer; forming a first photoresist layer over the first sacrificial layer and filling the plurality of openings formed through the first sacrificial layer; forming a plurality of openings in the first photoresist layer, each one of the plurality of openings in the first photoresist layer overlying one of the openings in the first sacrificial layer and wherein each opening in the first sacrificial layer has a smaller cross-sectional area then the cross-sectional area of the overlying opening in the first photoresist layer; and etching the first layer through the openings in the first photoresist layer and the first sacrificial layer, comprising exposing the first layer to an etching material.

公开/授权文献
IPC分类:
H 电学
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件（使用半导体器件的测量入G01；一般电阻器入H01C；磁体、电感器、变压器入H01F；一般电容器入H01G；电解型器件入H01G9/00；电池组、蓄电池入H01M；波导管、谐振器或波导型线路入H01P；线路连接器、汇流器入H01R；受激发射器件入H01S；机电谐振器入H03H；扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R；一般电光源入H05B；印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K；在具有特殊应用的电路中使用的半导体器件见应用相关的小类）
H01L21/00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21/04 ..至少具有一个跃变势垒或表面势垒的器件，例如PN结、耗尽层、载体集结层
H01L21/18 ...器件有由周期表Ⅳ族元素或含有/不含有杂质的AⅢBⅤ族化合物构成的半导体，如掺杂材料
H01L21/30 ....用H01L21/20至H01L21/26各组不包含的方法或设备处理半导体材料的（在半导体材料上制作电极的入H01L21/28）
H01L21/31 .....在半导体材料上形成绝缘层的，例如用于掩膜的或应用光刻技术的（密封层入H01L21/56）；以及这些层的后处理；这些层的材料的选择
H01L21/3105 ......后处理
H01L21/311 .......绝缘层的刻蚀
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