Invention Grant
- Patent Title: 具有减少的界面空洞的用于铜金属化的焊接点
- Patent Title (English): Solder joints for copper metallization having reduced interfacial voids
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Application No.: CN200680024468.8Application Date: 2006-05-31
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Publication No.: CN101213076BPublication Date: 2011-08-24
- Inventor: 达尔文·R·爱德华兹 , 屈子正 , 曾科军
- Applicant: 德州仪器公司
- Applicant Address: 美国得克萨斯州
- Assignee: 德州仪器公司
- Current Assignee: 德州仪器公司
- Current Assignee Address: 美国得克萨斯州
- Agency: 北京律盟知识产权代理有限责任公司
- Agent 刘国伟
- Priority: 11/140,785 2005.05.31 US
- International Application: PCT/US2006/020972 2006.05.31
- International Announcement: WO2006/130609 EN 2006.12.07
- Date entered country: 2008-01-04
- Main IPC: B32B15/08
- IPC: B32B15/08 ; B32B15/20 ; H01L23/532
Abstract:
一种金属互连结构(100)包括接合衬垫(101),所述接合衬垫具有铜,所述铜的至少70体积百分比由在晶粒主方向上扩展1μm以上的晶粒组成,且30或少于30体积百分比由在晶粒主结晶方向上扩展1μm以下的晶粒组成。锡合金主体(102)与所述接合衬垫接触。
Public/Granted literature
- CN101213076A 具有减少的界面空洞的用于铜金属化的焊接点 Public/Granted day:2008-07-02
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