发明授权
CN101910855B 确定电子部件对粒子的敏感度的方法
失效 - 权利终止
- 专利标题： 确定电子部件对粒子的敏感度的方法
- 专利标题（英）： Method of determining the particle sensitivity of electronic components
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申请号： CN200880122972.0申请日： 2008-10-23
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公开(公告)号： CN101910855B公开(公告)日： 2014-03-26
- 发明人: 弗洛伦特·米勒 , 纳丁·比阿尔 , 塞西尔·沃伊勒尔塞 , 蒂埃里·卡里埃 , 帕特里克·海因斯
- 申请人： 欧洲航空防务与空间公司EADS法国 , 空中客车营运有限公司 , 阿斯特里姆有限公司
- 申请人地址： 法国巴黎
- 专利权人： 欧洲航空防务与空间公司EADS法国,空中客车营运有限公司,阿斯特里姆有限公司
- 当前专利权人： 欧洲航空防务与空间公司EADS法国,空中客车营运有限公司,阿斯特里姆有限公司
- 当前专利权人地址： 法国巴黎
- 代理机构： 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理商 李春晖; 李德山
- 优先权： 0758621 2007.10.26 FR
- 国际申请： PCT/FR2008/051913 2008.10.23
- 国际公布： WO2009/056738 FR 2009.05.07
- 进入国家日期： 2010-06-25
- 主分类号： G01R31/302
- IPC分类号： G01R31/302 ; G01R31/28 ; G01R31/308 ; G01R31/3183
摘要：
为了分析电子部件，可使该部件受到聚焦激光的辐射。由激光绘图提供的与部件的敏感度区域的位置和深度有关的知识被用作预测代码中的输入参数，以量化所绘制的部件对自然辐射环境中的电离粒子的敏感度。预测代码允许评估电子部件中的故障的发生。对与辐射环境相关的风险的评估要求两个方面：第一，概率性的，考虑了粒子/物质相互作用，另一方面，电气上的，考虑了电子部件内部的电荷收集。
公开/授权文献
- CN101910855A 确定电子部件对粒子的敏感度的方法 公开/授权日：2010-12-08
