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公开(公告)号：CN101910855B
公开(公告)日：2014-03-26
申请号：CN200880122972.0
申请日：2008-10-23
申请人： 欧洲航空防务与空间公司EADS法国 , 空中客车营运有限公司 , 阿斯特里姆有限公司
IPC分类号： G01R31/302 , G01R31/28 , G01R31/308 , G01R31/3183
CPC分类号： G01R31/002 , G01R31/2849 , G01R31/2881 , G01R31/308 , G01R31/31816 , G01R31/318357
摘要： 为了分析电子部件，可使该部件受到聚焦激光的辐射。由激光绘图提供的与部件的敏感度区域的位置和深度有关的知识被用作预测代码中的输入参数，以量化所绘制的部件对自然辐射环境中的电离粒子的敏感度。预测代码允许评估电子部件中的故障的发生。对与辐射环境相关的风险的评估要求两个方面：第一，概率性的，考虑了粒子/物质相互作用，另一方面，电气上的，考虑了电子部件内部的电荷收集。
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公开(公告)号：CN101910855A
公开(公告)日：2010-12-08
申请号：CN200880122972.0
申请日：2008-10-23
申请人： 欧洲航空防务与空间公司EADS法国 , 空中客车营运有限公司 , 阿斯特里姆有限公司
IPC分类号： G01R31/302 , G01R31/28 , G01R31/308 , G01R31/3183
CPC分类号： G01R31/002 , G01R31/2849 , G01R31/2881 , G01R31/308 , G01R31/31816 , G01R31/318357
摘要： 为了分析电子部件，可使该部件受到聚焦激光的辐射。由激光绘图提供的与部件的敏感度区域的位置和深度有关的知识被用作预测代码中的输入参数，以量化所绘制的部件对自然辐射环境中的电离粒子的敏感度。预测代码允许评估电子部件中的故障的发生。对与辐射环境相关的风险的评估要求两个方面：第一，概率性的，考虑了粒子/物质相互作用，另一方面，电气上的，考虑了电子部件内部的电荷收集。
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公开(公告)号：CN102257398A
公开(公告)日：2011-11-23
申请号：CN200980150974.5
申请日：2009-12-02
申请人： 欧洲航空防务与空间公司EADS法国
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2881 , G01R31/002 , G01R31/2849
摘要： 本发明的目的在于一种集成电路(2)的测试装置，所述装置包括：板(3)，用于接纳所述集成电路(2)并使所述集成电路(2)受到测试，所述板(3)包括用于在测试期间对所述集成电路(2)供电并使其运转的电路(4)和用于测量所述集成电路(2)的运转的电路(5)；辐射设备(6)，用于使所述电路(2)受到质子(7)的轰击，其特征在于，其包括厚度改变的掩模(8)，所述掩模被设置在所述集成电路(2)上的轰击入口区域(9)和所述集成电路(2)的注入区(10)之间。
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公开(公告)号：CN102959416B
公开(公告)日：2016-02-03
申请号：CN201180033072.0
申请日：2011-06-30
申请人： 欧洲航空防务与空间公司-EADS法国
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/00 , G01R31/311
CPC分类号： G01R31/002 , G01B1/00 , G01R31/2848 , G01R31/2849 , G01R31/2881 , G01R31/311 , G01R31/31816 , H01L21/00 , H01L2221/00
摘要： 本发明的目标在于表征电子元件对天然辐射事件的敏感度的表征方法，其中：使电子元件投入使用；对于给定的粒子或入射束的特征，如能量和/或入射角和/或路径，确定SOA电压范围，超过该电压范围将发生所述元件的损毁事件；在接近所确定的SOA电压范围的最大电压值的工作条件中，用粒子或入射束的特征激励投入使用的电子元件；确定被放大的瞬时事件的有效截面，该有效截面对应所述元件的损毁现象的估值；修正所述粒子或所述入射束的特征，和重复对所述元件的激励；对于特征的每次修正，确定有效截面。
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公开(公告)号：CN102257398B
公开(公告)日：2014-04-23
申请号：CN200980150974.5
申请日：2009-12-02
申请人： 欧洲航空防务与空间公司EADS法国
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2881 , G01R31/002 , G01R31/2849
摘要： 本发明的目的在于一种集成电路(2)的测试装置(2)，所述装置包括：板(3)，用于接纳所述集成电路(2)并使所述集成电路(2)受到测试，所述板(3)包括用于在测试期间对所述集成电路(2)供电并使其运转的电路(4)和用于测量所述集成电路(2)的运转的电路(5)；辐射设备(6)，用于使所述电路(2)受到质子(7)的轰击，其特征在于，其包括厚度改变的掩模(8)，所述掩模被设置在所述集成电路(2)上的轰击入口区域(9)和所述集成电路(2)的注入区(10)之间。
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公开(公告)号：CN102959416A
公开(公告)日：2013-03-06
申请号：CN201180033072.0
申请日：2011-06-30
申请人： 欧洲航空防务与空间公司-EADS法国
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/00 , G01R31/311
CPC分类号： G01R31/002 , G01B1/00 , G01R31/2848 , G01R31/2849 , G01R31/2881 , G01R31/311 , G01R31/31816 , H01L21/00 , H01L2221/00
摘要： 本发明的目标在于表征电子元件对天然辐射事件的敏感度的表征方法，其中：使电子元件投入使用；对于给定的粒子或入射束的特征，如能量和/或入射角和/或路径，确定SOA电压范围，超过该电压范围将发生所述元件的损毁事件；在接近所确定的SOA电压范围的最大电压值的工作条件中，用粒子或入射束的特征激励投入使用的电子元件；确定被放大的瞬时事件的有效截面，该有效截面对应所述元件的损毁现象的估值；修正所述粒子或所述入射束的特征，和重复对所述元件的激励；对于特征的每次修正，确定有效截面。
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