Invention Grant
CN101970708B 氮化铝薄膜和氮化铝薄膜的制造方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 氮化铝薄膜和氮化铝薄膜的制造方法
- Patent Title (English): Thin film of aluminum nitride and process for producing the thin film of aluminum nitride
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Application No.: CN200980000384.4Application Date: 2009-02-18
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Publication No.: CN101970708BPublication Date: 2014-04-16
- Inventor: 佐藤一成 , 水原奈保 , 谷崎圭祐 , 宫永伦正 , 樱田隆 , 山本喜之 , 中幡英章
- Applicant: 住友电气工业株式会社
- Applicant Address: 日本大阪府
- Assignee: 住友电气工业株式会社
- Current Assignee: 住友电气工业株式会社
- Current Assignee Address: 日本大阪府
- Agency: 中原信达知识产权代理有限责任公司
- Agent 陈海涛; 樊卫民
- Priority: 2008-046335 2008.02.27 JP; 2009-012038 2009.01.22 JP
- International Application: PCT/JP2009/052747 2009.02.18
- International Announcement: WO2009/107525 JA 2009.09.03
- Date entered country: 2009-11-27
- Main IPC: C23C14/06
- IPC: C23C14/06 ; C30B29/38

Abstract:
本发明公开了平坦且薄的AlN薄膜及所述AlN薄膜的制造方法。AlN薄膜(2)包含0.001wt%~10wt%的选自III族元素、IV族元素和V族元素中的一种以上添加元素。在真空室内设置AlN烧结体,并在基材(1)已经设置在真空室内的状态下用激光束对所述AlN烧结体进行照射而产生等离子体,利用该等离子体能够在所述基材(1)上形成所述AlN薄膜(2),所述AlN烧结体包含0.001wt%~10wt%的选自III族元素、IV族元素和V族元素中的一种以上添加元素。
Public/Granted literature
- CN101970708A 氮化铝薄膜和氮化铝薄膜的制造方法 Public/Granted day:2011-02-09
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IPC分类: