发明公开
- 专利标题: 金氧半导体芯片及其制作方法
- 专利标题(英): Metal oxide semiconductor chip and making method thereof
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申请号: CN200910171447.4申请日: 2009-09-04
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公开(公告)号: CN102013428A公开(公告)日: 2011-04-13
- 发明人: 郑国樟 , 涂高维
- 申请人: 尼克森微电子股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾台北县
- 专利权人: 尼克森微电子股份有限公司
- 当前专利权人: 尼克森微电子股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾台北县
- 代理机构: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司
- 代理商 王月玲; 武玉琴
- 主分类号: H01L27/088
- IPC分类号: H01L27/088 ; H01L29/78 ; H01L29/417 ; H01L21/8234 ; H01L21/336 ; H01L21/28
摘要:
一种金氧半导体芯片,包括一重掺杂的半导体基板、一外延层、至少一元件与一金属图案层;重掺杂的半导体基板构成一漏极掺杂区;外延层于半导体基板上;外延层的上表面定义有一主动区、一终端区与一切割道保留区,在切割道保留区具有一蚀刻壁,延伸至半导体基板的一上表面;此半导体基板的上表面的边缘区域暴露于外;元件位于主动区,并具有一栅极与一源极;金属图案层位于外延层与半导体基板上,包括一栅极接触垫、一源极接触垫与一漏极金属图案,其中,栅极接触垫电连接栅极,源极接触垫电连接源极,至少部分的漏极金属图案位于半导体基板的上表面。此芯片的设计可降低导通耗损;其制作方法可降低制作成本,也有利于后续的封装与装配程序。
公开/授权文献
- CN102013428B 金氧半导体芯片及其制作方法 公开/授权日:2012-10-24
IPC分类: