- 专利标题: 从填充有中间层的沟槽生长Ⅲ-Ⅴ化合物半导体
- 专利标题(英): Growing III-V compound semiconductor from trench filled with intermediate layer
-
申请号: CN201010267459.X申请日: 2010-08-27
-
公开(公告)号: CN102064098B公开(公告)日: 2012-10-24
- 发明人: 万幸仁 , 柯志欣 , 吴政宪
- 申请人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾新竹
- 专利权人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 当前专利权人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹
- 代理机构: 北京德恒律师事务所
- 代理商 陆鑫; 熊须远
- 优先权: 61/262,042 2009.11.17 US; 12/842,221 2010.07.23 US
- 主分类号: H01L21/20
- IPC分类号: H01L21/20 ; H01L21/3105
摘要:
一种形成集成电路结构的方法,包括:在衬底的至少一部分上方形成绝缘层;在绝缘层的顶面上方形成多个半导体柱。该多个半导体柱通过绝缘层的多个部分水平隔离。该多个半导体柱配置为周期性图案。该方法进一步包括:从半导体柱的顶面和侧壁外延生长III-V化合物半导体膜。此外,还公开了一种从填充有中间层的沟槽生长III-V化合物半导体。
公开/授权文献
- CN102064098A 从填充有中间层的沟槽生长Ⅲ-Ⅴ化合物半导体 公开/授权日:2011-05-18
IPC分类: