发明授权
- 专利标题: 隧道场效应晶体管及其制造方法
- 专利标题(英): Tunnel field effect transistor and method for manufacturing same
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申请号: CN201080043950.2申请日: 2010-09-29
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公开(公告)号: CN102576726B公开(公告)日: 2015-01-07
- 发明人: 冨冈克広 , 福井孝志 , 田中智隆
- 申请人: 国立大学法人北海道大学
- 申请人地址: 日本北海道
- 专利权人: 国立大学法人北海道大学
- 当前专利权人: 国立大学法人北海道大学
- 当前专利权人地址: 日本北海道
- 代理机构: 北京鸿元知识产权代理有限公司
- 代理商 姜虎; 陈英俊
- 优先权: 2009-227564 2009.09.30 JP
- 国际申请: PCT/JP2010/005862 2010.09.29
- 国际公布: WO2011/040012 JA 2011.04.07
- 进入国家日期: 2012-03-30
- 主分类号: H01L29/66
- IPC分类号: H01L29/66 ; C30B29/62 ; H01L21/20 ; H01L29/06 ; H01L29/12 ; H01L29/78
摘要:
本发明涉及一种可在较小的亚阈值下动作且可容易地制造的隧道场效应晶体管。本发明的隧道场效应晶体管包含:IV族半导体基板,掺杂为第一导电型;III-V族化合物半导体纳米线,配置在所述IV族半导体基板的(111)面上,且包含连接于所述IV族半导体基板的(111)面的第一区域、及掺杂为与所述第一导电型不同的第二导电型的第二区域;源极电极,连接于所述IV族半导体基板;漏极电极,连接于所述III-V族化合物半导体纳米线的第二区域;及栅极电极,配置在可对所述IV族半导体基板的(111)面与所述III-V族化合物半导体纳米线的界面、或所述III-V族化合物半导体纳米线的第一区域与第二区域的界面产生效应的位置。
公开/授权文献
- CN102576726A 隧道场效应晶体管及其制造方法 公开/授权日:2012-07-11
IPC分类: