- 专利标题: 带有增强型源极-金属接头的屏蔽栅极沟槽金属氧化物半导体场效应管
- 专利标题(英): Shielded gate trench MOSFET with increased source-metal contact
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申请号: CN201210022166.4申请日: 2012-01-13
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公开(公告)号: CN102623501A公开(公告)日: 2012-08-01
- 发明人: 陈军
- 申请人: 万国半导体股份有限公司
- 申请人地址: 美国加利福尼亚桑尼维尔奥克米德公园道475号
- 专利权人: 万国半导体股份有限公司
- 当前专利权人: 万国半导体国际有限合伙公司
- 当前专利权人地址: 美国加利福尼亚桑尼维尔奥克米德公园道475号
- 代理机构: 上海信好专利代理事务所
- 代理商 张静洁; 张妍
- 优先权: 13/016,804 2011.01.28 US
- 主分类号: H01L29/78
- IPC分类号: H01L29/78 ; H01L29/423 ; H01L21/336
摘要:
一种形成在具有衬底顶面的半导体衬底上的半导体器件,包含:一个从衬底顶面延伸到半导体衬底中的栅极沟槽;一个在栅极沟槽中的栅极电极;一个沉积在栅极电极上方的电介质材料;一个在栅极沟槽附近的本体区;一个嵌在本体区中的源极区,至少一部分源极区延伸到电介质材料上方;一个接触沟槽,使源极区和本体区之间能进行电气等接触;以及一个沉积在至少一部分栅极沟槽开口、至少一部分源极区以及至少一部分接触沟槽上方的金属层。
公开/授权文献
- CN102623501B 带有增强型源极-金属接头的屏蔽栅极沟槽金属氧化物半导体场效应管 公开/授权日:2015-06-03
IPC分类: