发明公开
- 专利标题: 使用高功率脉冲磁控管溅镀法形成存储器
- 专利标题(英): Forming memory using high power impulse magnetron sputtering
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申请号: CN201180032068.2申请日: 2011-06-21
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公开(公告)号: CN102971844A公开(公告)日: 2013-03-13
- 发明人: 永俊·杰夫·胡 , 埃弗里特·A·麦克蒂尔 , 约翰·A·斯迈思三世 , 古尔特杰·S·桑胡
- 申请人: 美光科技公司
- 申请人地址: 美国爱达荷州
- 专利权人: 美光科技公司
- 当前专利权人: 美光科技公司
- 当前专利权人地址: 美国爱达荷州
- 代理机构: 北京律盟知识产权代理有限责任公司
- 代理商 宋献涛
- 优先权: 12/825,091 2010.06.28 US
- 国际申请: PCT/US2011/001100 2011.06.21
- 国际公布: WO2012/008989 EN 2012.01.19
- 进入国家日期: 2012-12-27
- 主分类号: H01L21/8247
- IPC分类号: H01L21/8247 ; H01L27/115 ; H01L21/203
摘要:
本文中阐述使用高功率脉冲磁控管溅镀法形成存储器。一个或一个以上方法实施例包含使用高功率脉冲磁控管溅镀法HIPIMS在结构上形成电阻式存储器材料,其中所述电阻式存储器材料是在具有大约400℃或400℃以下的温度的环境中在所述结构上形成。
公开/授权文献
- CN102971844B 使用高功率脉冲磁控管溅镀法形成存储器 公开/授权日:2016-02-17