Invention Publication
- Patent Title: 光学特性测量装置
- Patent Title (English): Optical characteristic measuring apparatus
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Application No.: CN201310030361.6Application Date: 2013-01-25
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Publication No.: CN103575508APublication Date: 2014-02-12
- Inventor: 大久保和明 , 白岩久志
- Applicant: 大塚电子株式会社
- Applicant Address: 日本大阪府
- Assignee: 大塚电子株式会社
- Current Assignee: 大塚电子株式会社
- Current Assignee Address: 日本大阪府
- Agency: 北京林达刘知识产权代理事务所
- Agent 刘新宇
- Priority: 2012-160527 2012.07.19 JP
- Main IPC: G01M11/02
- IPC: G01M11/02 ; G01J1/04

Abstract:
本发明提供一种光学特性测量装置,包括内壁具有反射面的半球部以及平面部,该平面部被配置成堵塞半球部的开口,在半球部的内壁侧具有反射面。平面部包括第一窗,该第一窗用于在包含半球部的实质的曲率中心的范围内安装光源。半球部和平面部中的至少一方包括多个第二窗,该多个第二窗以具有规定的规则性的方式进行配置,用于从半球部的内部取出光。
Public/Granted literature
- CN103575508B 光学特性测量装置 Public/Granted day:2017-05-24
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